专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种太赫兹脉宽调制器装置-CN201520721351.1有效
  • 申彦春;赵国忠;王佳;张新群 - 首都师范大学
  • 2015-09-18 - 2016-01-06 - G02F1/01
  • 该装置包括:太赫兹波源、直系、高阻硅片、可调谐氩离子激光器、太赫兹波探测器、A/D转换器、计算机。本实用新型利用直系将太赫兹波直为平行光束,利用可调谐氩离子激光器控制高阻硅片上太赫兹波的通、断,可调谐氩离子激光器经A/D转换器与计算机相连,太赫兹波探测器将探测到的脉宽调制信号送入计算机进行显示和存储本实用新型的太赫兹脉宽调制器装置具有系统简单,响应速度快,调整方便,制作成本低等特点,可广泛应用于太赫兹成像、太赫兹通信等领域。
  • 一种赫兹脉宽调制装置
  • [发明专利]大口径大动态范围直系波前质量检测装置-CN201110173930.3有效
  • 李艳秋;王建峰;刘克 - 北京理工大学
  • 2011-06-24 - 2011-11-23 - G01M11/02
  • 本发明公开了一种大口径大动态范围直系波前质量检测装置,能够同时具有大动态范围和高探测精度。光源发出的光经过待测直系形成待测直波前,待测直波前先后通过掩模板和扩束系统后投射到夏克哈特曼传感器的微透镜阵列;光电探测器将其探测到的光斑数据送入计算单元;掩模板中的一块矩形区域被划分为与微透镜数量相同的小正方形,每个小正方形的边长为d/β,d为微透镜的尺寸,β为扩束系统的扩束比;行号和列号均为单数的小正方形为方孔;控制器控制掩模板的移动,对于每一特定位置的掩模板,都有特定的部分待测波前经由扩束系统到达微透镜阵列
  • 口径动态范围系统质量检测装置
  • [发明专利]光学位移测量系统-CN201410024145.5有效
  • 伍剑;袁波 - 浙江大学
  • 2014-01-20 - 2014-05-14 - G01B11/02
  • 本发明公开的光学位移测量系统包括光源、直系、用于标度尺的光栅、分光系统、奇数反射系统、偶数反射系统、合光系统、光电探测器和信号处理系统。光源发出的光经直系直为平行光照明光栅,光栅的图像经分光系统分成两束,一束入射到奇数反射系统,另一束入射到偶数反射系统或直接进入合光系统,合光系统将来自奇数反射系统的光束和来自偶数反射系统或直接进入合光系统的光束重叠形成莫尔条纹,经光电探测器转换为电信号后输入到信号处理系统,对输入信号进行处理分析得到位移量。本发明结构简单,成本低,抗干扰能力强,能够有效地解决双光栅系统中光栅间隔和光栅局部缺陷对测量结果的影响,可用于位移测量和角位移测量。
  • 光学位移测量系统
  • [实用新型]一种光学位移测量系统-CN201420032546.0有效
  • 伍剑;袁波 - 浙江大学
  • 2014-01-20 - 2014-07-02 - G01B11/02
  • 本实用新型公开的一种光学位移测量系统包括光源、直系、用于标度尺的光栅、分光系统、奇数反射系统、偶数反射系统、合光系统、光电探测器和信号处理系统。光源发出的光经直系直为平行光照明光栅,光栅的图像经分光系统分成两束,一束入射到奇数反射系统,另一束入射到偶数反射系统或直接进入合光系统,合光系统将来自奇数反射系统的光束和来自偶数反射系统或直接进入合光系统的光束重叠形成莫尔条纹,经光电探测器转换为电信号后输入到信号处理系统,对输入信号进行处理分析得到位移量。本实用新型结构简单,成本低,抗干扰能力强,能够有效地解决双光栅系统中光栅间隔和光栅局部缺陷对测量结果的影响,可用于位移测量和角位移测量。
  • 一种光学位移测量系统

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