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- [发明专利]定标模组-CN202211678421.0在审
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甘海勇;赫英威;吴厚平;郑春弟
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中国计量科学研究院
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2022-12-26
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2023-03-28
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G01S7/40
- 本发明涉及探测定标技术领域，提供一种定标模组，包括：微波反射组件与光学反射组件；微波反射组件具有微波反射面，微波反射面用于反射雷达发出的微波，光学反射组件具有光学反射面，光学反射面用于向光学成像装备反射光线；微波反射组件与光学反射组件可拆卸式连接；微波反射组件上设有第一凹槽，微波反射面形成于第一凹槽的内壁面，微波反射面朝向光学反射组件，光学反射面设于光学反射组件背离微波反射组件的一侧；本发明通过微波反射组件与光学反射组件的灵活搭配组合，从而可以模拟多种不同反射特性的物体，以利于提升雷达与光学成像设备校准与定标的准确性。
- 定标模组
- [发明专利]光学测量装置和光学测量方法-CN201110391018.5无效
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濱田基明
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株式会社堀场制作所
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2011-11-30
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2012-07-11
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G01N21/55
- 本发明提供一种光学测量装置和光学测量方法，不仅可以测量(计算)试样的全反射光，还可以单独测量(计算)散射反射光和反射雾度等反射特性，并利用该特征计算出试样的膜厚。上述光学测量装置包括：第一反射光测量光学系统(3)，利用积分球(2)对全反射光进行聚光；第二反射光测量光学系统(3)，利用所述积分球(2)对散射反射光进行聚光；以及检测光学系统(7)，对利用积分球(2)聚光后的光进行检测；基于通过第一反射光测量光学系统(3)和检测光学系统(7)得到的全反射光、以及通过第二反射光测量光学系统(3)和检测光学系统(7)得到的散射反射光，计算出反射雾度，并且根据全反射光计算出试样的膜厚
- 光学测量装置测量方法
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