专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种离轴自由曲面光学系统偏振像差分析方法-CN202110122658.X有效
  • 史浩东;李英超;张艺蓝;王超;刘壮;张肃;战俊彤;付强;姜会林 - 长春理工大学
  • 2021-01-29 - 2022-05-06 - G06F30/20
  • 一种离轴自由曲面光学系统偏振像差分析方法,属于光学系统偏振特性分析技术领域,为解决现有偏振像差分析方法无法对含自由曲面的非轴对称系统进行全面评价的问题,该方法建立自由曲面偏振光线追迹模型;通过泡利分解获得系统的相位像差;通过奇异值分解获得系统的二向衰减;通过奇异值分解获得系统的相位延迟;添加自由曲面;重复步骤一至步骤四,得到离轴自由曲面光学系统的相位像差、二向衰减和相位延迟将其与不含自由曲面的离轴系统的此类像差做差值,得到自由曲面对离轴光学系统偏振像差的影响;调整表征自由曲面的Zernike系数,获得自由曲面对系统总体偏振特性分布的影响。将标量像差融合到矢量像差中进行整体分析,有助于系统优化。
  • 一种自由曲面光学系统偏振分析方法
  • [发明专利]光信息处理装置和光信息处理方法-CN201380015274.1有效
  • 岸上智;竹下伸夫 - 三菱电机株式会社
  • 2013-02-21 - 2017-05-31 - G11B7/09
  • 本发明以较少的测定点数进行球面像差校正量和聚焦调节值的调节。光信息处理装置(100)具有光学头(300),其向光盘(500)照射光,检测来自光盘的反射光而输出再现信号;球面像差校正部(160),其对照射到光盘的光的球面像差进行校正;聚焦调节部(201),其根据聚焦调节值对照射到光盘的光的聚焦位置进行调节;以及调节部(202),其分别针对以球面像差校正部(160)的球面像差校正量和聚焦调节值为坐标轴的平面上的至少3条直线,在该直线上的至少3点的测定位置处测定再现信号的信号特性,根据该测定结果,求出信号特性为大致同一水平的平面上的至少5个位置作为估计位置,并基于该至少5个估计位置调节球面像差校正量和聚焦调节值。
  • 信息处理装置方法以及调节程序
  • [发明专利]评价方法、曝光方法以及物品的制造方法-CN201611180236.3有效
  • 大久保徹 - 佳能株式会社
  • 2016-12-20 - 2019-11-26 - G03F7/20
  • 一种评价方法包括:转印工序,将掩模多个图案要素通过曝光装置的投影光学系统转印到基板;第1工序,根据转印工序中转印结果,求出与基于投影光学系统的多个图案要素各自的投影位置有关的第1特性值,将多个图案要素的第1特性值平均值作为表示投影光学系统像差的第1信息求出;检测工序,检测通过投影光学系统投影的多个图案要素像;第2工序,根据检测工序中的检测结果,求出关于基于投影光学系统的多个图案要素各自的投影位置的第2特性值,将多个图案要素第2特性值的平均值及多个图案要素各个的第2特性值与该第2特性值的平均值之差作为表示投影光学系统像差的第2信息求出;评价工序,根据第1信息和第2信息评价投影光学系统的像差
  • 评价方法曝光以及物品制造
  • [发明专利]光盘的记录方法以及光盘记录再生装置-CN200880105835.6无效
  • 小山胜弘;宫泽冬树;横山大造 - 太阳诱电株式会社
  • 2008-09-08 - 2010-09-15 - G11B7/125
  • 本发明提出一种可以在进行像差修正时,防止热干扰产生而导致记录品质下降的光盘的记录方法,以及此记录方法中所使用的光盘记录再生装置。此光盘的记录方法包括如下步骤:在光盘150的输出校正区域使记录用激光的点径变化而进行试验记录,并导出点径和表示记录品质的特性值的关系;从所导出的点径和表示记录品质的特性值的关系而导出点径的变化量的容许范围;一面对光盘150的记录区域照射记录用激光来进行记录,一面检测球面像差;以及当产生球面像差时,以使点径的变化量控制在所导出的容许范围的方式进行像差修正。
  • 光盘记录方法以及再生装置

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