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[发明专利]位移测量装置和位移测量方法-CN202110966418.8在审
发明人：梅辉;曾有军;安德里亚斯·沃斯;阿明·迈森伯格 -专利权人：精量电子（深圳）有限公司;泰连传感器德国有限公司
申请日： 2021-08-23 - 公布日： 2023-02-24 - 主分类号： G01B7/02 文献下载
摘要：本发明公开一种位移测量装置和位移测量方法。位移测量装置包括：线性磁感应阵列，包括沿直线方向排成一列的多个磁感应传感器；磁控开关阵列，与线性磁感应阵列并排设置，且包括沿直线方向排成一列的多个磁控开关；磁体，能够相对于线性磁感应阵列和磁控开关阵列沿直线方向移动因此，本发明无需对所有磁感应传感器的数据进行采集、处理和计算，降低了位移测量装置的功耗、提高了数据更新频率和检测效率。
位移测量装置测量方法

[发明专利]位移测量装置和位移测量方法-CN201610035807.8有效
发明人：安达聪;徳洋平;长谷川年洋 -专利权人：株式会社三丰
申请日： 2016-01-19 - 公布日： 2019-07-26 - 主分类号： G01B7/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种位移测量装置和位移测量方法。
位移测量装置测量方法

[发明专利]位移测量方法以及位移测量装置-CN201380059806.1在审
发明人：松井优贵;菅孝博;泷政宏章 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2013-11-14 - 公布日： 2015-07-22 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明提供一种作为位移测量装置的共焦点测量装置(100)。该共焦点测量装置(100)具有：白色LED(21)，出射多个波长的光；头部(10)，以衍射透镜(2)、物镜(3)、开口作为共焦点光学系统而构成；移动机构(40)，使头部(10)沿着共焦点测量装置(100)的测量轴(Z轴)方向移动；测量部(控制器部(20))。共焦点测量装置(100)使头部(10)与测量对象物(200)之间的距离变化，来取得通过开口的光的光谱的极大点。共焦点测量装置(100)将该极大点成为分光反射特性的极大点或者极小点时的距离，设定为当测量位移时的头部(10)与测量对象物之间的基准距离。
位移测量方法以及测量装置

[发明专利]位移测量方法和位移测量装置-CN201180017720.3有效
发明人：小山胜弘;池田正人 -专利权人：太阳诱电株式会社
申请日： 2011-03-28 - 公布日： 2012-12-19 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明提供一种位移测量方法和位移测量装置，不受光学元件倾斜精度的影响，构成简单且能小型化，受到衍射光栅的平面方向的位置偏移的影响较小，进行光学分辨率调整的位移测量。对利用第一衍射光栅(16)衍射的第一、第二返回光(L rev1、L rev2)的规定级数的衍射光进行光量检测，根据与全反射镜(24)的相对于半透射半反射镜(22)的轴向的相对移动量相对应的干涉光带或其信号得出位移量
位移测量方法测量装置

[发明专利]位移测量探头、测量装置及位移测量方法-CN202210890553.3在审
发明人：王三宏;金少峰;杨灏 -专利权人：深圳市深视智能科技有限公司
申请日： 2022-07-27 - 公布日： 2022-09-23 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：本申请提供了一种位移测量探头、测量装置及位移测量方法。位移测量探头包括：光束输出组件，用于输出准直的第一高斯光束；光束转换组件，用于将准直的第一高斯光束转换为第一贝塞尔光束并出射至待测物面；成像组件，成像组件包括成像透镜及线阵图像传感器，成像透镜的光轴与第一贝塞尔光束成第一角度，成像透镜用于对第一贝塞尔光束照射在待测物面所形成的亮斑成像，线阵图像传感器与光轴成第二角度设置，用于接收成像透镜对亮斑所成的亮斑图像，亮斑图像用于计算待测物面相对基准面的位移。本申请提供的位移测量探头能以高横向分辨率对具有精细台阶式轮廓的物面进行高纵向分辨率位移测量的同时，增大测量量程。
位移测量探头装置测量方法

[发明专利]位移测量装置、测量系统及位移测量方法-CN201810151188.8有效
发明人：近藤智则;铃木祐太;的场贤一;金谷义宏 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2018-02-13 - 公布日： 2023-07-07 - 主分类号： G01S17/08 文献下载
摘要：本发明获得一种能够精度良好地测量到测量对象面的距离的位移测量装置、测量系统及位移测量方法。本发明的位移测量装置包括：投光部，产生光；传感器头，对测量对象物照射光，且接收所照射的光中在测量对象物的测量对象面反射的光；以及控制部，基于传感器头所接收的光，算出表示与测量对象面之间的距离的值。控制部是以所算出的值包含在预先设定的数值范围内为条件，将所算出的值作为表示到测量对象面的距离的值进行处理，且基于所算出的值，重新设定数值范围。
位移测量装置系统测量方法

[发明专利]位移测量装置及采用该位移测量装置的位移测量方法-CN201510920550.X在审
发明人：汪晓兵;周松萍;周沙;刘伟 -专利权人：华自科技股份有限公司
申请日： 2015-12-11 - 公布日： 2016-05-04 - 主分类号： G01B7/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种位移测量装置，包括机架、绕线组件、拉线、转动触发件及接近开关，绕线组件转动连接于机架，拉线绕设于绕线组件并与被测工件连接；转动触发件设于绕线组件并可随绕线组件转动；接近开关沿转动触发件的转动方向以预设角度间隔地设置于机架被测工件移动一定位移，并拉动拉线带动绕线组件转动，转动触发件随绕线组件转动，并在转动过程中接通或断开接近开关使其产生脉冲，通过对脉冲信号进行计算，获得被测工件产生的位移。由于本位移测量装置输出信号为脉冲信号，因此其对安装使用环境的抗干扰能力强，使用便利且提高了测量精度。还提供有一种采用如上述的位移测量装置的位移测量方法。
位移测量装置采用测量方法

[发明专利]三维位移测量装置和隔震支座位移监测方法-CN202111673699.4在审
发明人：蔡建羡;蒋涛;闫粉粉;高志涛;牛领辉;吴勇;张素灵 -专利权人：防灾科技学院;北京港震科技股份有限公司
申请日： 2021-12-31 - 公布日： 2022-04-12 - 主分类号： G01B7/02 文献下载
摘要：本发明提供一种三维位移测量装置和隔震支座位移监测方法，其中，三维位移测量装置用于测量两被测物之间的三维相对位移，包括位移测量模块和角度测量模块；位移测量模块的长度方向一端用于连接一被测物，角度测量模块连接于位移测量模块的长度方向另一端，角度测量模块远离位移测量模块的一端用于连接另一被测物；位移测量模块用于测量两被测物沿位移测量模块长度方向的相对位移；角度测量模块用于测量位移测量模块绕第一轴线的第一相对旋转角度和绕第二轴线的第二相对旋转角度，第一轴线和第二轴线相互垂直且均垂直于位移测量模块的长度方向。本发明的三维位移测量装置，能够实现一次性测量三个方向位移，测量效率高，有利于提高测量精度。
三维位移测量装置支座监测方法

[发明专利]双层安全壳内壳位移测量系统及测量方法-CN202210437781.5在审
发明人：何锐;卜玉兵;黄晓明;许国良;张波;陈威;赵健;沈东明;张复彬 -专利权人：中广核工程有限公司;中国广核集团有限公司;中国广核电力股份有限公司
申请日： 2022-04-25 - 公布日： 2022-08-12 - 主分类号： G01B21/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种双层安全壳内壳位移测量系统及测量方法。所述双层安全壳内壳位移测量系统包括：至少一个内壳位移测量装置，用于测量内层安全壳位移测点的相对位移；至少一个外壳位移测量装置，用于测量外层安全壳的位移；信号采集装置，用于采集内壳位移测量装置的测量信号，得到内层安全壳位移测点的相对位移；以及数据处理装置，用于利用外壳位移测量装置测得的外层安全壳的位移，对内层安全壳位移测点的相对位移进行修正，得到内层安全壳位移测点的实际位移。与现有技术相比，本发明以外层安全壳的位移对内层安全壳位移测点的相对位移进行修正，解决了现有测量方案测量基准点受温度影响较大，进而导致系统测量精度较低的问题。
双层安全壳内壳位移测量系统测量方法

[实用新型]三维位移测量装置-CN202123418237.6有效
发明人：蔡建羡;蒋涛;闫粉粉;高志涛;牛领辉;吴勇;张素灵 -专利权人：防灾科技学院;北京港震科技股份有限公司
申请日： 2021-12-31 - 公布日： 2022-06-10 - 主分类号： G01B7/02 文献下载
摘要：本实用新型提供一种三维位移测量装置，用于测量两被测物之间的三维相对位移，包括位移测量模块和角度测量模块；位移测量模块的长度方向一端用于连接一被测物，角度测量模块连接于位移测量模块的长度方向另一端，角度测量模块远离位移测量模块的一端用于连接另一被测物；位移测量模块用于测量两被测物沿位移测量模块长度方向的相对位移；角度测量模块用于测量位移测量模块绕第一轴线的第一相对旋转角度和绕第二轴线的第二相对旋转角度，第一轴线和第二轴线相互垂直且均垂直于位移测量模块的长度方向本实用新型的三维位移测量装置，能够实现一次性测量三个方向位移，测量效率高，有利于提高测量精度。
三维位移测量装置

[实用新型]位移测量传感装置和位移测量传感系统-CN201922487281.9有效
发明人：杜路平;安礼相;石鹏;袁小聪 -专利权人：深圳大学
申请日： 2019-12-30 - 公布日： 2020-08-14 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：本实用新型公开一种位移测量传感装置和位移测量传感系统。其中，该位移测量传感装置包括：光线发生模块、光路模块、响应模块以及检测模块。本实用新型位移测量传感装置提高光学成像的精准度。
位移测量传感装置系统

[发明专利]一种非接触式调速器主配阀芯位移测量方法及装置-CN201810160058.0在审
发明人：涂勇;帅小乐;卢舟鑫;杨刚;池成虎;刘欢;皮萃;张其俊 -专利权人：中国长江电力股份有限公司
申请日： 2018-02-26 - 公布日： 2018-08-17 - 主分类号： G01B21/02 文献下载
摘要：一种非接触式调速器主配阀芯位移测量方法及装置，包括主配压阀阀套、主配压阀阀芯、主配位移测量圆台、主配位移测量支架、主配位移测量探头；所述主配位移测量探头安装于主配压阀阀套的端盖上，所述主配位移测量圆台安装于主配压阀阀芯在主配压阀阀套外部的连杆上，所述主配位移测量圆台的轴向中心设有与主配压阀阀芯在主配压阀阀套外部的连杆直径相匹配的通心孔，主配位移测量圆台上、下固定限位，所述主配位移测量支架固定于主配压阀阀套的端盖上，所述主配位移测量探头固定于主配位移测量支架上本发明其将主配阀芯的轴向位移通过主配位移测量圆台转换为径向的位移变化，从而通过测量主配位移测量探头头部端面到主配位移测量圆台的距离变化，就可以测量主配阀芯位移。
位移测量主配压阀阀套圆台主配阀探头阀芯非接触式调速器端盖支架测量固定限位距离变化探头头部位移变化支架固定轴向位移轴向中心通心孔外部匹配转换

[发明专利]一种利用锥形面测量转子轴向和径向位移的方法-CN201911031375.3有效
发明人：孙岩桦;王璐;田中梁;刘晨阳;杨涛;吴鹏飞 -专利权人：西安交通大学
申请日： 2019-10-28 - 公布日： 2020-11-17 - 主分类号： G01B21/02 文献下载
摘要：一种利用锥形面测量转子轴向和径向位移的方法，先在转子上加工一个和转子同轴的锥形测量面，然后在锥形测量面周围垂直于锥形测量面设置多个位移测量装置，每个位移测量装置测量锥形测量面与该位移测量装置的相对位移，最后通过对所有位移测量装置输出的相对位移进行处理得到转子运动时的轴向和径向位移；本发明可以同时测量出转子的径向和轴向位移，而且量程较大，线性范围宽，易于实施、适用性强。
一种利用锥形测量转子轴向径向位移方法

[实用新型]一种轴位移测量结构及水平剖分式离心压缩机-CN201921152592.3有效
发明人：高万程;刘晓鹏;郭飞虎;张弛;韩帅;徐鹏;于长猛;王岩;刘双龙;徐铭泽 -专利权人：沈阳透平机械股份有限公司
申请日： 2019-07-22 - 公布日： 2020-05-22 - 主分类号： F04D27/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种轴位移测量结构及水平剖分式离心压缩机，属于离心压缩机技术领域。所述轴位移测量结构包括：轴位移测量螺母、轴承区侧盖及若干轴位移测量探头；所述轴承区侧盖与机壳及轴承压盖固定连接，并形成封闭式轴承区；所述轴位移测量螺母与主轴止推侧端部螺纹连接，所述轴位移测量螺母设置在所述封闭式轴承区内，所述轴位移测量螺母背离所述主轴止推侧端部的端面为轴位移测量面；若干所述轴位移测量探头穿过所述轴承区侧盖对准所述轴位移测量面。本实用新型轴位移测量结构保证了轴位移测量值的准确性。
一种位移测量结构水平分式离心压缩机

[发明专利]机床的热位移校正装置和热位移校正方法-CN202210053522.2在审
发明人：沟口祐司 -专利权人：大隈株式会社
申请日： 2022-01-18 - 公布日： 2022-08-05 - 主分类号： B23Q17/00 文献下载
摘要：本发明提供机床的热位移校正装置和热位移校正方法。在机床的热位移校正中，通过有效学习温度与位移之间的关系来提高热位移校正的精度。热位移校正装置具备：温度传感器，测量各部分的温度；热位移估计部，基于预先设定的热位移估计式来估计热位移校正量；位置控制装置，以热位移校正量为基础来校正轴指令值；位移测量装置，测量轴指令值的校正后的位移；热位移校正学习数据记录部，记录测量了位移时的温度信息和位移信息；热位移校正学习部，基于记录的温度信息和位移信息来决定热位移估计式；以及位移测量时机诊断部，在规定的诊断时机，将记录的过去的位移测量时的温度信息与当前的温度信息进行比较，决定是否利用位移测量装置进行位移的测量。
机床位移校正装置方法

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