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[发明专利]图像校正方法、成像系统、电子设备和存储介质-CN202210191371.7在审
发明人：闫浩;刘达林;常少杰 -专利权人：西安大医集团股份有限公司
申请日： 2022-02-28 - 公布日： 2022-06-03 - 主分类号： A61B6/00 文献下载
摘要：本发明实施例通过预先配置滤过器的亮场过滤数据，得到滤过器在不同扫描电压下的亮场过滤比例，在获取通过滤过器扫描得到的空气的第一亮场图像以及暗场图像后，根据暗场图像对第一亮场图像进行暗电流校正，得到第二亮场图像，然后根据当前扫描电压以及滤过器的亮场过滤数据，对第二亮场图像进行转换，得到目标亮场图像，然后根据目标亮场图像，确定得到图像增益系数，然后根据图像增益系数，即可对扫描得到的待测对象的扫描图像进行校正。
图像校正方法成像系统电子设备存储介质

[发明专利]X射线探测器质量检测方法、系统、存储介质和电子设备-CN202310271050.2在审
发明人：连玄;巫德财;刘茜茜;罗杰 -专利权人：成都善思微科技有限公司
申请日： 2023-03-20 - 公布日： 2023-08-01 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种X射线探测器质量检测方法、系统、存储介质和电子设备，所述方法包括：获取利用X射线探测器拍摄得到的原始亮场图，并对所述原始亮场图进行校正，得到校正亮场图；确定所述校正亮场图的目标参数，当所述目标参数超出相应的阈值范围时，判定所述校正亮场图为异常图像，否则，判定所述校正亮场图为正常图像；当所述校正亮场图为异常图像时，判定所述X射线探测器质量异常，否则，判定所述X射线探测器质量正常。
射线探测器质量检测方法系统存储介质电子设备

[实用新型]亮暗场结合的光学检测装置和系统-CN202122299135.0有效
发明人：曾耀 -专利权人：武汉中导光电设备有限公司
申请日： 2021-09-18 - 公布日： 2022-03-18 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：本申请公开了一种亮暗场结合的光学检测装置和系统，涉及光学检测的技术领域，装置包括光源部分、成像系统和面阵相机；光源部分包括独立设置的亮场光源部分和暗场光源部分；成像系统包括同轴设置的分束镜组件、成像镜头和中继镜头；面阵相机被配置为采集由中继镜头输出的成像图像；暗场光源部分被配置为向待测工件的待测表面发出暗场光，成像镜头被配置为朝向待测表面；亮场光源部分被配置为向分束镜组件发出亮场光；分束镜组件设于成像镜头和中继镜头之间，被配置为将从亮场光源部分发出的亮场光反射至成像镜头，将从成像镜头发出的亮场光和/或暗场光透过并发射至中继镜头。本申请将亮暗场检测组合使用，应对更多尺寸缺陷和检测精度要求。
暗场结合光学检测装置系统

[实用新型]应用于表面检测的亮暗场视觉装置及检测设备-CN202123272123.5有效
发明人：张发恩;姬传波 -专利权人：创新奇智（北京）科技有限公司
申请日： 2021-12-21 - 公布日： 2022-09-13 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本申请提供一种应用于表面检测的亮暗场视觉装置及检测设备，涉及产品检测技术领域。应用于表面检测的亮暗场视觉装置包括支架；拍照单元，拍照单元设置于支架；亮场光源，亮场光源设置于支架，亮场光源位于拍照单元的取景方向上；以及暗场光源，暗场光源设置于支架，暗场光源沿着拍照单元的取景方向分布且位于亮场光源的远离拍照单元的一侧应用于表面检测的亮暗场视觉装置能够通过亮场光源、暗场光源与拍照单元的配合，实现一次检测多种缺陷，减少不必要的检测工位，避免占用过多空间，并且可以根据安装位置选择合适的支架。使用该应用于表面检测的亮暗场视觉装置的检测设备，能够对多种缺陷进行检测，不需要设置过多的检测工位。
应用于表面检测暗场视觉装置设备

[发明专利]一种平板探测器图像校正的方法和装置-CN202210803765.3在审
发明人：何承林;曾晓东;林言成;黄细平;黄翌敏 -专利权人：上海奕瑞光电子科技股份有限公司
申请日： 2022-07-07 - 公布日： 2022-10-11 - 主分类号： G06T5/00 文献下载
摘要：本发明提供一种平板探测器图像校正的方法和装置，先采集射线源辐照在初始角度的亮场图像和预设多个摆动角度的一张亮场图像，并对初始角度的亮场图像进行处理得到初始角度的增益校正模板；然后根据初始角度的增益校正模板对所有摆动角度的亮场图像进行处理得到每个摆动角度的光场转化系数模板；根据初始角度的光场转换系数模板和所有摆动角度的光场转化系数模板得到角度光场转换函数；基于角度光场转换函数得到待测角度的增益校正模板；根据待测角度的增益校正模板对待测角度的亮场图像进行增益校正，并得到待测角度的校正图像
一种平板探测器图像校正方法装置

[发明专利]一种X射线图像传感器及其消除图像残影的方法-CN201610710392.X有效
发明人：于祥国;方志强 -专利权人：上海奕瑞光电子科技股份有限公司
申请日： 2016-08-23 - 公布日： 2019-06-11 - 主分类号： A61B6/00 文献下载
摘要：本发明提供一种X射线图像传感器及其消除图像残影的方法，包括：每个像素连接两个TFT开关，像素行之间设计两条扫描线，像素列之间设计两条读出线，亮场图像与暗场图像的扫描与读出可分开独立进行；上侧读出电路负责亮场图像读取在亮场信号图像采集的过程中，亮场图像扫描行与暗场图像电荷释放相差一行或者n行时间，所以在亮场图像采集完成的时候，相应暗场图像的电荷释放也完成一次或多次。本发明在采集亮场图像的同时可清除图像lag信息一次或多次；不增加单独的清空操作和额外的清空时间；可以在静态采集条件或动态采集条件下使用，有效提高图像采集频率及图像质量。
一种射线图像传感器及其消除图像方法

[发明专利]一种基于定标场观测的星载综合孔径辐射计误差校正方法-CN202211338438.1在审
发明人：吴袁超;李一楠;宋广南;杨小娇;李鹏飞;姜任之;陈文新;任合;桂一棵 -专利权人：西安空间无线电技术研究所
申请日： 2022-10-28 - 公布日： 2023-02-24 - 主分类号： G01S7/40 文献下载
摘要：一种基于定标场观测的星载综合孔径辐射计误差校正方法，针对星载综合孔径辐射计在轨内定标后仍存在的残余误差及天线前端未校正的误差，通过建立与观测目标场景相似且易建模的区域作为星载综合孔径辐射计的定标场，目标场景与定标场可见度函数按比例作差，最后利用定标场模型亮温对差值重构亮温进行亮温补偿，可以有效校正系统误差，提高重构亮温图像的质量。
一种基于定标观测综合孔径辐射计误差校正方法

[发明专利]一种CT成像中投影图背景不一致的校正方法-CN201611046838.X有效
发明人：王海鹏;杨玉双;白娟娟 -专利权人：山西大学
申请日： 2016-11-23 - 公布日： 2019-02-26 - 主分类号： G06T7/80 文献下载
摘要：本发明涉及一种CT成像中投影图背景不一致的校正方法，具体是一种基于图像灰度信息的CT投影图背景互相关配准法，包括如下步骤：1)在采集样品CT投影图像之前，采集亮场图像一张。确定亮场图像的光斑中心；2)计算亮场图像补偿函数；3)亮场图像照度补偿；4)投影图像照度补偿；5)投影图背景与亮场图背景的实际偏移量计算；6)图像平移配准。
一种 ct 成像投影图背景不一致校正方法

[发明专利]一种X射线探测器校正方法、装置、系统及存储介质-CN201910451397.9在审
发明人：彭云;丁亮;吕广志 -专利权人：深圳市菲森科技有限公司
申请日： 2019-05-28 - 公布日： 2019-08-23 - 主分类号： G01T7/00 文献下载
摘要：装置、系统及存储介质，方法包括：获取至少一帧暗场图像组成暗场图像集；基于所述暗场图像集生成暗场校正模板，并基于所述暗场校正模板对所述探测器进行暗场校正；设置至少一个X射线剂量点，并获取对应X射线剂量点的亮场图像集；基于所述亮场图像集生成亮场校正模板，并基于所述亮场校正模板和所述暗场校正模板对所述探测器进行亮场校正。通过控制不同的X射线剂量点并曝光，控制所述探测器采集一组暗场图像集和多组不同X射线剂量点的亮场图像集，并基于采集到的图像集生成对应的校正模板，最后使用上述校正模板自动校正探测器，提高了X射线探测器校正的效率
校正亮场暗场图像图像集探测器暗场存储介质自动化技术领域采集自动校正曝光

[发明专利]一种太阳电池的电性能测试方法-CN202110295330.8有效
发明人：张会文;刘皎;张鹤仙;黄国保 -专利权人：陕西众森电能科技有限公司
申请日： 2021-03-19 - 公布日： 2022-12-20 - 主分类号： H02S50/15 文献下载
摘要：一种太阳电池的电性能测试方法，属于太阳电池测试领域，其特征在于：测出待测太阳电池的串联电阻Rs；在亮场条件下测出光电流值Iph；计算等效亮场条件下的电压值Up和电流值Ip；根据等效亮场IV曲线，或等效亮场条件下的电压值和电流值获得测试结果；暗场条件下的测试时间大于亮场条件下的测试时间。延长暗场IV测试时间消除太阳电池电容效应对电性能测试结果的影响；由于光生电流的测试几乎不受容性效应影响，相当于电容两端短路，所以亮场测试时间可以很短。
一种太阳电池性能测试方法

[发明专利]光学检验系统及方法-CN200980116093.1有效
发明人：拉尔斯·马克沃特;拉吉斯瓦·切贝尔;克劳斯·埃克勒;诺伯特·哈伦特 -专利权人：南达技术公司
申请日： 2009-04-03 - 公布日： 2011-04-13 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明提供一种晶片检验系统，其具有亮场成像射束路径与暗场成像射束路径，用于获得完整300毫米晶片的亮场图像与暗场图像。该光学系统可用于进行远心成像并且具有低光学像差。所述亮场射束路径与暗场射束路径折叠，使得该系统能够被整合而用于占据具有小覆盖范围的小体积。
光学检验系统方法

[发明专利]光学检测方法-CN202010223303.5在审
发明人：林义雄;张根豪;颜鹏洲 -专利权人：捷普电子(新加坡)公司
申请日： 2020-03-26 - 公布日： 2021-09-28 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：一种光学检测方法包含：通过两个光源在不同时间点，分别对待测物的表面投射亮场照明及暗场照明；通过影像撷取单元对所述待测物的所述表面撷取影像，以分别获得对应的亮场影像及暗场影像；通过处理单元根据公式W1*P1+W2*P2＝P3，将所述亮场影像及所述暗场影像合成为组合影像，其中，W1及W2分别是亮场权重及暗场权重，P1、P2、及P3分别是所述亮场影像、所述暗场影像、及所述组合影像在相同位置的画素值；通过所述处理单元对所述组合影像作影像辨识
光学检测方法

[发明专利]消除平板探测器图像残影的方法及平板探测器-CN201610513009.1有效
发明人：王锋;张楠;金利波;张晨旭;潘力平 -专利权人：上海奕瑞光电子科技股份有限公司
申请日： 2016-07-01 - 公布日： 2019-02-26 - 主分类号： G06T5/00 文献下载
摘要：本发明提供一种平板探测器以及消除平板探测器图像残影的方法，方法包括：1）使用平板探测器进行曝光，采集一帧原始亮场图像及一帧原始暗场图像，并记录所述原始亮场图像的采集时间点t1；2）使用平板探测器继续曝光，采集一帧原始亮场图像及一帧原始暗场图像，并记录所述原始亮场图像的采集时间点t2；3）根据图像残影的自然衰减规律，结合t1与t2之间的时间间隔获取加权系数；4）利用步骤3）中加权系数对步骤1）采集的原始暗场图像进行补偿后通过差分运算对步骤2）中采集的原始亮场图像进行图像残影校正。
消除平板探测器图像方法

[发明专利]一种多通道CIS图像校准方法-CN202011333367.7有效
发明人：陆星衡;毕冬梅;江浩然;张云峰;张玉富 -专利权人：恒银金融科技股份有限公司
申请日： 2020-11-25 - 公布日： 2021-03-16 - 主分类号： H04N5/217 文献下载
摘要：本发明公开了一种多通道CIS图像校准方法，S1，暗场采集，调整偏置：采集所有通道的暗场原始数据并进行均值计算，通过调整输入偏置与增益的方式，使暗场矫正值固定在预设范围内，达到多通道暗场基准统一，并采集暗场数据；S2，亮场采集，调整曝光时间：在多通道暗场基准统一的标准下，调整不同光的曝光时间，使CIS在不同曝光条件下的亮场值均处于要求范围内，调整曝光时间后采集亮场数据；S3，计算校准系数：根据采集到的亮场数据和暗场数据进行数学计算使用此方法校准后，暗场值将处于较低水平，各通道亮场最大值将呈平滑状态，且处于较高水平。校准后的图像，动态范围较高，图像内信息边缘锐利，易于进行后续图像识别算法。
一种通道 cis 图像校准方法

[发明专利]缺陷分类方法、装置、设备及存储介质-CN202111477092.9有效
发明人：李谭军 -专利权人：蓝思科技股份有限公司
申请日： 2021-12-06 - 公布日： 2022-03-15 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：该方法包括：获取光源对待检测的玻璃盖板照射得到的玻璃盖板的亮场反射光图像和暗场透射光图像；分别提取亮场反射光图像和暗场透射光图像中的缺陷部位，得到亮场缺陷图像和暗场缺陷图像；合并亮场缺陷图像和暗场缺陷图像得到组合图像，其中，组合图像中包含有同一缺陷的亮场图像和暗场图像；根据脏污分类条件和组合图像中缺陷部位的图像特征对组合图像中的缺陷进行分类，以判定组合图像中的缺陷是否为脏污。
缺陷分类方法装置设备存储介质

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