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[发明专利]三维形状测量装置-CN202010655283.9在审
发明人：全文营 -专利权人：株式会社高迎科技
申请日： 2016-06-03 - 公布日： 2020-10-02 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：三维形状测量装置包括主图案照明部、主拍摄部及控制部。主图案照明部朝向测量对象物，在互不相同方向倾斜地照射格子图案光。主拍摄部接受提供从主图案照明部向测量对象物照射并被测量对象物倾斜地反射的格子图案光的反射光，获得测量对象物的格子图案图像。控制部利用测量对象物的格子图案图像，算出测量对象物的高度数据，或利用测量对象物的平面图像的成像位置及测量对象物的纹理信息，算出测量对象物的高度数据，且将照射于测量对象物的格子图案用作纹理信息，算出测量对象物的高度数据因此，能够更容易、准确地测量三维形状。
三维形状测量装置

[发明专利]三维形状测量装置-CN201210487146.4有效
发明人：石原满宏 -专利权人：株式会社高岳制作所
申请日： 2012-11-26 - 公布日： 2013-08-14 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：根据一个实施例，一种三维形状测量装置至少包括：提供有多个共焦孔的孔板，所述多个共焦孔被二维设置为具有预定设置周期；以及孔板位移部，其使孔板在垂直于光轴方向的预定方向上以恒定速度产生位移。
三维形状测量装置

[发明专利]三维形状测量装置-CN201110242010.2有效
发明人：吉住惠一;久保圭司;舟桥隆宪;土居正照 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 2011-08-23 - 公布日： 2012-04-04 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：一种三维形状测量装置，上面触头(1a)能够利用气动滑块1沿XY方向不振动地扫描测量测量物(7)的上面(7a)，利用第一反射镜(1b)和透镜(2de)还能够精度良好地测量Z坐标，侧面触头(2ia)只在XY方向上能够位移而在Z方向不振动，因此能够扫描测量测量物侧面(7b)，侧面触头(2ia)的Z坐标测量利用所述第一反射镜(1b)的Z坐标测量值，能够更高精度地用倾斜角度测量部(2j)测量侧面触头的XY位移。
三维形状测量装置

[发明专利]三维形状测量装置-CN201710860489.3有效
发明人：辻村幸弘;吉田政臣 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2017-09-21 - 公布日： 2020-09-18 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：本发明提供一种在通过图案的投影来进行物体的三维形状测量时，即使不增加投影单元的数量也能够抑制产生成为阴影的区域的技术。一种三维形状测量装置，具有：投影单元(10)，其对测量对象投影图案；拍摄单元(11)，其对被投影了所述图案的所述测量对象进行拍摄；测量单元(12)，其通过处理由所述拍摄单元取得的图像来对检查对象的三维形状进行测量
三维形状测量装置

[发明专利]三维形状测量装置-CN201680033600.5有效
发明人：全文营 -专利权人：株式会社高迎科技
申请日： 2016-06-03 - 公布日： 2020-07-17 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：三维形状测量装置包括主图案照明部、主拍摄部及控制部。主图案照明部朝向测量对象物，在互不相同方向倾斜地照射格子图案光。主拍摄部接受提供从主图案照明部向测量对象物照射并被测量对象物倾斜地反射的格子图案光的反射光，获得测量对象物的格子图案图像。控制部利用测量对象物的格子图案图像，算出测量对象物的高度数据，或利用测量对象物的平面图像的成像位置及测量对象物的纹理信息，算出测量对象物的高度数据，且将照射于测量对象物的格子图案用作纹理信息，算出测量对象物的高度数据因此，能够更容易、准确地测量三维形状。
三维形状测量装置

[发明专利]三维形状测量装置-CN201780097841.0有效
发明人：廣桥博仁 -专利权人：株式会社FLICFIT
申请日： 2017-12-21 - 公布日： 2021-07-27 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明提供一种三维形状测量装置，其能够以简单且廉价的结构在短时间内高精度地测量诸如鞋的内周之类的狭窄空间的形状。三维形状测量装置包括基座(10)和支撑在基座(10)上的装置主体(20)，装置主体(20)包括：光学长度测量装置(210)，其从激光源(211)射出射出激光(LB1)，在激光束位置检测器(212)上接收在测量对象物(鞋SH)上反射的反射激光(LB2)，通过三角测定方法对所述测量对象物上的反射点(P)的位置进行测量；转动镜(230)，其在支柱(220)的下部被支撑为镜转动轴(231)为中心能够转动；镜转动装置(240)，其转动镜转动轴(231)，并扫描射出激光(LB1)；装置主体旋转装置(40)，其使装置主体(20)相对于基座(10)转动，并扫描转动镜(230)反射的射出激光(LB1)。
三维形状测量装置

[发明专利]三维形状测量装置-CN97117515.2无效
发明人：堀口千代春;高桥繁夫;天野哲夫;松浦浩幸;渡濑库治;书马日出男 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 1997-08-28 - 公布日： 2002-08-28 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：一种三维形状测量装置包括一个被设置成围绕一测量区间并沿垂直方向移动的活动框架，一批被布置在活动框架的两对边上彼此相对，并被安排以实现光的水平扫描以测量到被测物体人体的距离的探测器，一个用来移动活动框架的驱动机构，一个根据相关探测器的输出信号计算到人体的距离以分析人体的表面位置的数据，即人体的三维形状的分析器，还有一个放置人体于其上的放置台。由于探测器被布置在人体的正面和背面，本装置也可测量腋下和两腿交叉处下的部位的形状。
三维形状测量装置

[发明专利]三维形状测量装置-CN200710086747.3无效
发明人：全文荣;金珉永 -专利权人：株式会社高永科技
申请日： 2007-03-13 - 公布日： 2007-09-26 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明涉及三维形状测量装置，其具有：产生光的投影部(10)、感测光的成像部(20)、设置在投影部(10)与成像部(20)之间的棱镜部(30)、分别设置在棱镜部(30)两侧的第一和第二反射镜部(40，50棱镜部(30)使投影部(10)产生的光选择性地入射到第一和第二反射镜部(40，50)并入射到被测量物体(1)的表面，当由被测量物体(1)的表面反射的光选择性地入射到第一和第二反射镜部(40，50)而被镜面反射时本发明的三维形状测量装置在测量三维形状时可以去除影子，同时可以测量由被测量物体的表面反射的光。
三维形状测量装置

[发明专利]三维形状测量装置-CN200810211879.9无效
发明人：包罗劳斯基·米哈鲁 -专利权人：安立株式会社
申请日： 2008-09-18 - 公布日： 2009-03-25 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明是有关于一种三维形状测量装置，是一种可缩短测量时间而进行三维测量的技术。光路形成部接收来自宽频带光源的宽频带光，使其分支入射到参考光路和测量光路，并将来自参考镜的反射光与来自被测量物的反射光进行合波后向拍摄机构输出。另一方面，光路长度可变机构使测量光路的光路长度发生变化。
三维形状测量装置

[发明专利]三维形状测量装置-CN201680020799.8在审
发明人：全文营;金弘珉 -专利权人：株式会社高永科技
申请日： 2016-04-11 - 公布日： 2017-12-05 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：三维形状测量装置包括多个主图案照明部、多个主拍摄部及控制部。多个主图案照明部朝向测量对象物，在互不相同方向倾斜地照射格子图案光。多个主拍摄部拍摄从各主图案照明部照射的格子图案光被测量对象物倾斜地反射而生成的格子图案图像。控制部利用多个主拍摄部拍摄的多个格子图案图像，算出测量对象物的三维形状。因此，能够提高测量的准确度及精密度。
三维形状测量装置

[发明专利]三维形状测量装置-CN200580044232.6无效
发明人：武田光夫;米哈尔·埃马努埃尔·波罗斯基;坂野洋平 -专利权人：国立大学法人电气通信大学
申请日： 2005-12-22 - 公布日： 2007-12-12 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：在使用白色干涉条纹测量被测量物的三维形状的三维形状测量装置(白色干涉测量装置)中，可以缩短运算所需要的处理时间，并且可以高精度地确定白色干涉条纹的振幅的包络线为最大的位置。在白色干涉测量装置中，首先对于由来自参照镜(6)的返回光和来自被测量物(7)的返回光的干涉产生的白色干涉条纹，求出振幅的包络线的分布，使用该包络线的分布，求出白色干涉条纹的对比度为最大的大概的位置。
三维形状测量装置

[发明专利]三维形状测量装置、三维形状测量系统及三维形状测量方法-CN201610864687.2在审
发明人：饭田丰男 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2016-09-29 - 公布日： 2017-07-07 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：本发明涉及三维形状测量装置、三维形状测量系统、程序、计算机可读取的存储介质及三维形状测量方法，不需要编码器等而准确地测量被测对象的三维形状信息。三维形状测量装置(10)具备标记搜索部(104)，其使用搜索用标记(40)算出形成有由线激光(60)在被测对象(70)的表面上形成的光切断线的部分的坐标。
三维形状测量装置系统测量方法

[发明专利]三维形状测量装置、三维形状测量方法-CN201910744004.3有效
发明人：小池泰弘 -专利权人：株式会社斯库林集团
申请日： 2019-08-13 - 公布日： 2021-08-20 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明提供一种三维形状测量装置、三维形状测量方法，其能够应对在对象物的三维形状测量中产生了数据丢失点的情况。一边使拍摄单元(4)的拍摄范围(F)与对象物(J)重叠，一边执行根据使拍摄单元(4)拍摄拍摄范围(F)而得到的结果来取得表示拍摄范围(F)中的三维形状的数据的测量处理。执行搜索处理来搜索对象物(J)中的存在通过测量处理无法取得数据的数据丢失点的丢失范围(R1～R4)，将通过搜索处理搜索到的丢失范围(R1～R4)收纳在拍摄范围(F)内，再次执行测量处理。因此，即使在一次测量处理中产生数据丢失点的情况下，也能够针对通过搜索处理搜索到的丢失范围(R1～R4)再次执行测量处理，并插补数据丢失点的数据。
三维形状测量装置测量方法

[发明专利]三维形状测量方法及三维形状测量装置-CN202111081169.0在审
发明人：成松修司;堀口宏贞;长谷川浩 -专利权人：精工爱普生株式会社
申请日： 2021-09-15 - 公布日： 2022-04-01 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：本发明提供了三维形状测量方法及三维形状测量装置，无论对象物的形状如何，都能够以高测量精度测量对象物的三维形状。三维形状测量方法的特征在于，具有：在将包含于光的三原色中的两个颜色的光设为第一光及第二光时，将基于所述第一光的第一光栅图案及基于所述第二光的第一整面图案投影到对象物的步骤；通过三色摄像机拍摄投影到所述对象物的所述第一光栅图案及所述第一整面图案
三维形状测量方法测量装置

[发明专利]三维形状测量方法以及三维形状测量装置-CN202111044839.1在审
发明人：堀口宏贞;成松修司;长谷川浩 -专利权人：精工爱普生株式会社
申请日： 2021-09-07 - 公布日： 2022-03-11 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：本发明提供三维形状测量方法以及三维形状测量装置，无论对象物的形状如何，都能够以高测量精度且高速地测量对象物的三维形状。三维形状测量方法的特征在于，具有以下步骤：在将光的三原色中包含的两种颜色的光作为第一光以及第二光时，使由所述第一光形成的第一栅格图案以及由所述第二光形成的第二栅格图案相互交叉地投影到对象物上的步骤；利用三色相机对投影到所述对象物上的所述第一栅格图案以及所述第二栅格图案进行拍摄
三维形状测量方法以及测量装置

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