[发明专利]具有过量的A-位及B-位调节剂的ABO3薄膜及其制造方法无效
申请号: | 95194766.4 | 申请日: | 1995-06-30 |
公开(公告)号: | CN1083161C | 公开(公告)日: | 2002-04-17 |
发明(设计)人: | 吾妻正道;C·帕斯迪阿劳霍;M·C·斯各特 | 申请(专利权)人: | 西梅特里克司有限公司;松下电器产业株式会社 |
主分类号: | H01L27/108 | 分类号: | H01L27/108;H01L21/8242;H01L21/316 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 钟守期,罗才希 |
地址: | 美国科*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种制造集成电路电容器(10,20,30)的方法,其中用的介电层(15,26,37)包括具有添加的过量的A-位和B-位材料,如钡及钛的BST。制备一种有机金属皂或金属皂前体溶液(P42),前体溶液包含掺入过量的A-位及B-位材料如钡及钛的纯度高于99.999%的BST备用溶液,钡的含量为0.01-100mol%,钛的含量为0.01-100mol%。然后进行二甲苯交换(P44)来调节对基底转涂用的溶液的粘度。前体溶液转涂在第1个电极上(P45),在400℃干燥(P46)2到10分钟,然后在650℃到800℃热处理(P47)约1小时以形成含过量的钛的BST层。淀积(P48)上第2个电极,刻制图形(P49)并在650℃及800℃之间热处理约30分钟。所得的电容器(10,20,30)的介电常数增大,而漏电电流几乎不变。 | ||
搜索关键词: | 具有 过量 调节剂 abo3 薄膜 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种制造用于集成电路(10,20,30)的钛酸钡锶层的方法,其中所述钛酸钡锶层(15,26,37)包含超过形成由式ABO3定义的钛酸钡锶层所必需的B-位材料的化学计算量的B-位材料,所述方法包括提供(P42)一种含钡、锶和钛的初始液态前体的步骤;其中钡和锶是A-位材料和钛是B-位材料,钡、锶和钛以形成所述化学计量的钛酸钡锶的量存在,所述方法的特征在于下列步骤:掺入(P42)过量的B-位材料到所述初始液态前体中以制成一种溶液,所述的过量的B-位材料选自Cr、Zr、Ta、Mo、W和Nb,其量为所述化学计算量的B-位材料的量的0.01%-100%;将该溶液涂布(P45)在基底上;使该溶液干燥;和将该溶液在氧中加热(P46,P47)以形成含过量的B-位材料的钛酸钡锶层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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