[发明专利]Gamma调试方法、装置、设备及存储介质在审
申请号: | 202310976932.9 | 申请日: | 2023-08-03 |
公开(公告)号: | CN116935795A | 公开(公告)日: | 2023-10-24 |
发明(设计)人: | 曾文宇;姜兰兰;蒋倩颖;包顺东 | 申请(专利权)人: | 合肥维信诺科技有限公司 |
主分类号: | G09G3/3208 | 分类号: | G09G3/3208;G09G3/3258 |
代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人: | 杨永恒 |
地址: | 230000 安徽*** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本申请公开了一种Gamma调试方法、装置、设备及存储介质。方法包括:根据各个绑点灰阶分别对应的目标亮度值以及光学设备的探测亮度区间确定多个第一绑点灰阶和多个第二绑点灰阶;在显示面板显示单色图像画面时,调整数据电压值以使实际亮度值与各个第一绑点灰阶分别对应的目标亮度值相匹配;根据部分第一绑点灰阶分别对应的数据电压值,确定阶梯电压值;根据任意一个第一绑点灰阶与各个第二绑点灰阶的灰阶差值以及阶梯电压值,计算得到各个第二绑点灰阶对应的数据电压值。根据本申请实施例,能够采用非光学检测匹配的方式得到部分绑点灰阶的数据电压值,避免采集精度影响数据电压值的准确性,改善低亮度低灰阶下的灰阶过渡断层现象。 | ||
搜索关键词: | gamma 调试 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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