[发明专利]电路板多应力老化检测方法及试验装置在审

专利信息
申请号: 202310478172.9 申请日: 2023-04-27
公开(公告)号: CN116953472A 公开(公告)日: 2023-10-27
发明(设计)人: 曹庆杰;李雷孝;魏绍军;张华伟;张振恺;朱振东 申请(专利权)人: 青岛鼎新电子科技有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G05B23/02;G01R1/04;G01R1/02
代理公司: 青岛联智专利商标事务所有限公司 37101 代理人: 王艳珍
地址: 266000 山东省*** 国省代码: 山东;37
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明公开了一种电路板多应力老化检测方法及试验装置,电路板多应力老化检测方法包括:确定环境应力及其量值步骤;确定电应力负载步骤;温控步骤,按照所述温度应力量值调节温控箱的温度;负载控制步骤,向待检电路板发送测试激励信号,待检电路板生成用于控制电应力负载的控制信号;试验分析步骤,获取各电应力负载的输出信号,并对所述输出信号进行分析得到检测结论。本发明的电路板多应力老化检测方法,通过采用环境应力和电应力同时作用,激发产品早期失效故障,筛选试验来暴露产品早期的潜在缺陷,检测精度更高,从而提高产品可靠性。
搜索关键词: 电路板 应力 老化 检测 方法 试验装置
【主权项】:
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