[发明专利]基于迁移学习的无监督缺陷检测方法和系统、存储介质在审
| 申请号： | 202310085859.6 | 申请日： | 2023-01-18 |
| 公开（公告）号： | CN115994900A | 公开（公告）日： | 2023-04-21 |
| 发明（设计）人： | 曾利宏;杨洋;翟爱亭;郭家元 | 申请（专利权）人： | 深圳市华汉伟业科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06V10/80;G06T7/136;G06N3/0464;G06N3/096;G06N3/088 |
| 代理公司： | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 | 代理人： | 郭燕;彭家恩 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区西丽街道*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 基于迁移学习的无监督缺陷检测方法/系统、存储介质，通过将待检测图像输入缺陷检测模型获得其特征描述图，将该特征描述图与预先保存的正常样本图像的核心特征图比较以确定待检测图像的缺陷区域；缺陷检测模型的训练包括：将正常样本图像分批作为当前样本图像，将各当前样本图像分别输入初始化的缺陷检测模型得到各当前样本图像的特征描述图，对当前样本图像的特征描述图进行特征压缩处理后，与上一批次的融合特征图进行特征融合作为新的融合特征图，将最后一个批次获得的融合特征图作为正常样本图像的核心特征图，以核心特征图引导缺陷检测模型训练。由于训练过程中无需缺陷图像参与，相比有监督的检测方式更易于在工业上进行实际应用。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 迁移 学习 监督 缺陷 检测 方法 系统 存储 介质 | ||
【主权项】：
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