[发明专利]一种基于超宽带线阵和单柱面反射面的全紧缩场测量系统在审
| 申请号： | 202310040673.9 | 申请日： | 2023-01-12 |
| 公开（公告）号： | CN116165447A | 公开（公告）日： | 2023-05-26 |
| 发明（设计）人： | 王正鹏;杨珂 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人： | 杨学明;顾炜 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于超宽带线阵和单柱面反射面的全紧缩场测量系统，该系统由超宽带线阵、单柱面反射面、目标架设转台和支架、微波暗室组成。本系统采用超宽带线阵作为激励源，模拟柱面波入射单柱面反射面，经过单柱面反射面反射后，柱面波修正为准平面波。传统反射面紧缩场采用单馈源照射反射面，必须在静区锥削和反射面照射效率之间取平衡，静区锥削越小，反射面照射效率越高，静区锥削增大，反射面照射效率提高，但是有效静区尺寸缩小。本发明的优势在于，超宽带线阵作为激励源，可以有效克服传统反射面紧缩场中静区锥削与反射面照射效率之间的矛盾，通过阵列赋形，在保证反射面照射效率的同时，静区锥削得到有效控制。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 宽带 柱面 反射 紧缩 测量 系统 | ||
【主权项】：
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