[发明专利]一种基于超宽带线阵和单柱面反射面的全紧缩场测量系统

权利要求书

1.一种基于超宽带线阵和单柱面反射面的全紧缩场测量系统，其特征在于：包括超宽带线阵、单柱面反射面、目标架设转台和支架、微波暗室；采用所述超宽带线阵作为激励源，在微波暗室内部生成静区场；所述超宽带线阵由超宽带天线单元、幅相调控网络组成，幅相调控网络用于配置激励权值；静区场与激励权值之间满足关系式其中N是超宽带天线单元总数，n是超宽带天线单元编号，W_n是激励权值，X_n是超宽带天线单元的单元辐射场，E是静区场；所述激励权值通过权重函数确定，权重函数为a、b、c、d为系数，l_n表示超宽带线阵的超宽带天线单元位置；对超宽带线阵引入权重函数后，单柱面反射面的横向口径利用率达到70％以上。

2.根据权利要求1所述的一种基于超宽带线阵和单柱面反射面的全紧缩场测量系统，其特征在于：所述全紧缩场测量系统采用超宽带线阵作为激励源，产生柱面波经单柱面反射面反射后修正为准平面波，在距离单柱面反射面一定距离处形成圆柱形的静区场，超宽带线阵提高紧缩场的自由度，单柱面反射面的利用率提升，静区覆盖面积增大。

3.根据权利要求1所述的一种基于超宽带线阵和单柱面反射面的全紧缩场测量系统，其特征在于：所述超宽带天线单元口面指向方向为单柱面反射面焦点所在方向；所述全紧缩场测量系统包含两组超宽带线阵，其中一组超宽带线阵作为电磁波信号发射端，另一组作为电磁波信号接收端；超宽带线阵由N个超宽带天线单元组成，超宽带天线单元以等间距分布或稀疏分布；折中对超宽带天线单元的总数N和超宽带天线单元间距进行取值，避免高频欠采样产生高频栅瓣以及低频过采样导致单元强耦合；

超宽带天线单元的总数N和超宽带天线单元的间距根据所述全紧缩场测量系统实际的工作带宽与全紧缩场测量系统静区的极限位置设置，即高频带宽范围考虑距离天线位置最近的静区质量，低频带宽范围考虑距离天线位置最远的静区质量。

4.根据权利要求1所述的一种基于超宽带线阵和单柱面反射面的全紧缩场测量系统，其特征在于：所述超宽带天线单元是一种超宽带Vivaldi天线，多个超宽带Vivaldi天线构成电小尺寸、超宽带紧耦合阵列；在超宽带Vivaldi天线的指数型渐开槽中后部添加V字形扼流槽，槽之间加载有50欧姆阻值匹配电阻，有效减小所述超宽带天线单元在最低工作频率的电尺寸，提升高频工作能力，有利于超宽带天线阵列组阵；所述超宽带天线单元极化方式配置为水平、垂直双极化方式。

5.根据权利要求1所述的一种基于超宽带线阵和单柱面反射面的全紧缩场测量系统，其特征在于：所述单柱面反射面的水平方向的截线是一条直线，铅锤方向的截线是一条抛物线；所述单柱面反射面边缘处理形式为锯齿形、卷边或吸波材料加载结构。

6.根据权利要求1所述的一种基于超宽带线阵和单柱面反射面的全紧缩场测量系统，其特征在于：所述微波暗室的外形是长方体型、喇叭型、锥形或者前几种外形的组合体；所述超宽带线阵的柱面波辐射场经单柱面反射面反射转换为准平面波辐射场后，辐射波束更为集中，对微波暗室的外形要求降低。