[发明专利]适于开关时间测试和阈值电压测试的测试电路及测试方法有效
| 申请号： | 202310010325.7 | 申请日： | 2023-01-05 |
| 公开（公告）号： | CN115684864B | 公开（公告）日： | 2023-03-31 |
| 发明（设计）人： | 何嘉辉 | 申请（专利权）人： | 佛山市联动科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R1/30;G01R19/00;G04F10/00;H03K17/687 |
| 代理公司： | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人： | 李静玉 |
| 地址： | 528000 广东省佛山市南*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及半导体技术领域，具体涉及了一种适于开关时间测试和阈值电压测试的测试电路及测试方法，测试电路包括：功率回路、开关时间测试电路以及阈值电压测试电路，阈值电压测试电路包括第一电源、第一开关、第二开关和第三开关，功率回路包括第一电容，第一电源通过第一开关连接被测器件的集电极，通过第二开关连接发射极，通过第三开关连接基极，第一开关和第二开关闭合时，第一电源为第一电容充电，第三开关闭合时，阈值电压测试电路用于测试被测器件的阈值电压；开关时间测试电路连接功率回路进行开关时间测试。本发明通过开关的开断，先为第一电容充电；然后再进行被测器件阈值电压的测试；可以减小阈值电压的测试时间。 | ||
| 搜索关键词： | 适于 开关时间 测试 阈值 电压 电路 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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