[发明专利]岩石表面非均匀波速场测量装置及其测量方法有效
| 申请号： | 202310010317.2 | 申请日： | 2023-01-05 |
| 公开（公告）号： | CN115685324B | 公开（公告）日： | 2023-03-10 |
| 发明（设计）人： | 王兆丰;潘鹏志;张文海 | 申请（专利权）人： | 中国科学院武汉岩土力学研究所 |
| 主分类号： | G01V1/28 | 分类号： | G01V1/28;G01N29/04;G01N29/07;G01V1/143;G01V1/30 |
| 代理公司： | 成都方圆聿联专利代理事务所(普通合伙) 51241 | 代理人： | 苟铭 |
| 地址： | 430071 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明提供一种岩石表面非均匀波速场测量装置及其测量方法，激光测距雷达安装在精密电动舵机上方，用于测量激光测距雷达与标志杆的距离；精密电动舵机用于实现旋转，连接可旋转滑轨，带动可旋转滑轨共同旋转；精密电动舵机下方固定有振动接收传感器；标志杆下部嵌入到电动滑块，下端连接有冲压器；压力传感器安置在电动滑块和冲压器之间；电动滑块嵌入在可旋转滑轨上形成滑动副；冲压器实现岩石表面撞击；振动接收传感器用于接收冲压器撞击岩石表面发出的振动信号；压力传感器接收冲压器撞击岩石表面产生的压力脉冲。本发明适用于复杂多变的地质条件环境和岩石表面，操作简便；对了解岩体表面初始损伤和结构构造准确，测量时间短。 | ||
| 搜索关键词： | 岩石 表面 均匀 波速 测量 装置 及其 测量方法 | ||
【主权项】：
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