[发明专利]用于测量光学系统的成像特性的设备和方法在审
| 申请号： | 202280018522.7 | 申请日： | 2022-02-22 |
| 公开（公告）号： | CN116964426A | 公开（公告）日： | 2023-10-27 |
| 发明（设计）人： | 拉尔夫·波伊卡拉;A·米尔扎雷克;F·彼得 | 申请（专利权）人： | 全欧光学检测仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 张会华;岳红杰 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明涉及一种用于测量光学系统(4)的成像特性的设备(2)，其中设备(2)包括：试件保持器(6)，其被设置用于将待测试的光学系统(4)定位在预先确定的测试位置处；刚性的保持设备(8)和多个MTF测量设备(20)，该MTF测量设备在保持设备(8)的可固定地预先确定的位置处被布置成，使得可以用MTF测量设备中的每一者在光学系统(4)的像场中在分别彼此不同的同样可固定地预先确定的角度方位处测量调制传递函数。该设备的改进之处在于，保持设备(8)包括至少一个第一保持器(10)和至少一个第二保持器(12)，并且多个MTF测量设备包括第一组MTF测量设备(20)和第二组MTF测量设备(20)，其中第一保持器(10)被设置用于将第一组MTF测量设备(20)保持在第一位置处，使得第一组MTF测量设备(20)布置在第一球壳面上，第二保持器(12)被设置用于将第二组MTF测量设备(20)保持在第二位置处，使得第二组MTF测量设备(20)布置在第二球壳面上，其中第一球壳面和第二球壳面具有不同的半径并且相对于彼此同心地布置。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 光学系统 成像 特性 设备 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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