[实用新型]一种芯片测试机构有效
| 申请号： | 202223301921.0 | 申请日： | 2022-12-05 |
| 公开（公告）号： | CN219039281U | 公开（公告）日： | 2023-05-16 |
| 发明（设计）人： | 韦锦景 | 申请（专利权）人： | 中山市迅科达智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 深圳市精英创新知识产权代理有限公司 44740 | 代理人： | 刘杰 |
| 地址： | 528400 广东省中山市南*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种芯片测试机构，包括：固定测试箱和测试插座，所述固定测试箱设有公头和母座中的一个，所述测试插座设有所述公头和所述母座中的另一个，所述公头和母座可拆卸连接；其中，所述固定测试箱包括：箱体和设于所述箱体底部的底板，所述箱体内设有板卡模组和网络模块，所述板卡模组和所述网络模块信号连接；所述箱体顶部设有通孔，所述板卡模组与所述箱体顶部固接，所述公头和母座中的一个内嵌于所述通孔内并连接于所述板卡模组的转接板上。本实用新型通过可拆卸式的公头和母座将固定测试箱和测试插座连接，使得测试不同规格的芯片时只需更换对应的测试插座即可，提升芯片测试夹具的重复利用率，且芯片更换更方便，节约成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 机构 | ||
【主权项】：
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