[发明专利]一种高时空分辨的磁光偏振成像测量系统在审

专利信息
申请号: 202211355218.X 申请日: 2022-11-01
公开(公告)号: CN115839929A 公开(公告)日: 2023-03-24
发明(设计)人: 韦可;刘祺瑞;江天;郝昊;唐宇翔;李思维;程湘爱 申请(专利权)人: 中国人民解放军国防科技大学
主分类号: G01N21/39 分类号: G01N21/39;G01N21/01
代理公司: 国防科技大学专利服务中心 43202 代理人: 关洪涛
地址: 410073 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种高时空分辨的磁光偏振成像测量系统,包括飞秒脉冲激光源、第一分束器、第二分束器、泵浦光路组件、探测光路组件、第三分束器、第一合束器、第二合束器、微区样品成像模块、信号探测模块和计算机;所述计算机与飞秒脉冲激光源、泵浦光路组件、探测光路组件、微区样品成像模块、信号探测模块连接,用于光源的输出和参数控制、成像及光路调试、仪器的自动化控制与测试、信号处理功能。本发明具有超高时间分辨、高空间分辨、无需制样、非接触式测量等优势。
搜索关键词: 一种 时空 分辨 偏振 成像 测量 系统
【主权项】:
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