[发明专利]测试程序确定方法、装置、电子设备及可读存储介质有效
申请号: | 202211059469.3 | 申请日: | 2022-08-30 |
公开(公告)号: | CN115144735B | 公开(公告)日: | 2022-11-15 |
发明(设计)人: | 张亚运 | 申请(专利权)人: | 北京象帝先计算技术有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 北京新知远方知识产权代理事务所(普通合伙) 11397 | 代理人: | 王俊博;徐雪峤 |
地址: | 100029 北京市朝阳区安定*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本公开提供一种测试程序确定方法、装置、电子设备及可读存储介质,该方法包括:获取晶圆所包括的晶片进行CP测试后的CP测试结果数据;根据所述CP测试结果数据及线性关系表达式预测所述晶片在FT测试阶段的FT测试结果数据,所述线性关系表达式根据其他良品芯片的既往CP测试结果数据与其既往FT测试结果数据拟合而成;根据所述FT测试结果数据对所述晶圆内的晶片进行分级;根据各级晶片的级标识,确定用于对各级晶片进行所述FT测试的FT测试程序。通过该方法,有利于节省测试资源,降低测试成本。 | ||
搜索关键词: | 测试 程序 确定 方法 装置 电子设备 可读 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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