[发明专利]一种芯片测试装置、测试系统及测试方法有效
| 申请号： | 202210974524.5 | 申请日： | 2022-08-15 |
| 公开（公告）号： | CN115436778B | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 刘明;胡忠强;关蒙萌;黄豪;潘伟 | 申请（专利权）人： | 珠海多创科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R33/02 |
| 代理公司： | 广东朗乾律师事务所 44291 | 代理人： | 杨焕军 |
| 地址： | 519000 广东省珠海市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种芯片测试装置、测试系统及测试方法，芯片测试装置包括：电磁铁模组，包括多个倾斜磁极以及直接或间接绕设于所述倾斜磁极上的线圈，用于通过所述倾斜磁极对位于芯片测试位置的待测芯片施加磁场；磁探头，用于获取所述芯片测试位置的磁场信息；电探针，用于与所述待测芯片电连接，获取所述待测芯片的电性能反馈信息。本发明可以消除电磁铁磁滞的影响，克服因磁滞的存在导致计算难度大的问题，能够准确还原出芯片测试位置的磁场，从而可以准确地找出不合格产品，提高产品良率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 装置 系统 方法 | ||
【主权项】：
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