[发明专利]故障排查方法、装置、系统、设备及存储介质在审
| 申请号： | 202210362049.6 | 申请日： | 2022-04-07 |
| 公开（公告）号： | CN114866139A | 公开（公告）日： | 2022-08-05 |
| 发明（设计）人： | 吴普超 | 申请（专利权）人： | 上海联虹技术有限公司 |
| 主分类号： | H04B10/079 | 分类号： | H04B10/079 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 张娜 |
| 地址： | 201702 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种故障排查方法、装置、系统、设备及存储介质，所述方法包括：OLT将每个ONU与一个光衰通道连接，并获取N个所述光衰通道的工作衰减值；其中，N为正整数；所述OLT对每个所述ONU的工作状态进行检测；若存在长发光流氓ONU，则基于排查算法以及衰减值的阈值对N个所述光衰通道进行第一次分类，获得第一隔离光衰通道以及第一排查光衰通道；对所述第一排查光衰通道进行检测，获得检测结果，并基于所述检测结果确定第一筛选光衰通道；基于所述排查算法以及所述衰减值的阈值对第M筛选光衰通道进行第M+1次分类，直至确定与所述长发光流氓ONU对应的目标光衰通道；其中，M为正整数。本发明的技术方案，可以实现正常的ONU快速恢复通信业务。 | ||
| 搜索关键词： | 故障 排查 方法 装置 系统 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海联虹技术有限公司，未经上海联虹技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202210362049.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
