[发明专利]一种线性稳压电源芯片的老化测试系统在审
| 申请号： | 202210091906.3 | 申请日： | 2022-01-26 |
| 公开（公告）号： | CN114441941A | 公开（公告）日： | 2022-05-06 |
| 发明（设计）人： | 梁子聪;万世辉 | 申请（专利权）人： | 英彼森半导体（珠海）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京慕达星云知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11465 | 代理人： | 符继超 |
| 地址： | 519000 广东省珠海市横琴新区环岛东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种线性稳压电源芯片的老化测试系统；包括：核心板、老化底板组件和万用表；老化底板组件由多个老化底板并联组成；核心板用于承载待测芯片，且核心板通过第一PCI插槽与对应的老化底板连接；每个老化底板均包括第一MCU芯片、第一模拟开关和第一COM接口；第一模拟开关在第一MCU芯片的控制下，用于将第一PCI插槽上对应的待测芯片的引脚信号发送至第一COM接口；万用表通过测量第一COM接口，获得待测芯片引脚的输入电压值、输出电压值、输入电流值和输出电流值；通过该系统能够对芯片测试过程中的关键数据进行实时监测、减少芯片测试所需空间，同时降低测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 线性 稳压电源 芯片 老化 测试 系统 | ||
【主权项】：
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