[发明专利]观察装置和观察方法在审

专利信息
申请号: 202180062034.1 申请日: 2021-01-21
公开(公告)号: CN116194818A 公开(公告)日: 2023-05-30
发明(设计)人: 安彦修;竹内康造;山田秀直 申请(专利权)人: 浜松光子学株式会社
主分类号: G02B21/36 分类号: G02B21/36
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 杨琦
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 观察装置(1A)包括光源(11)、镜(22)、聚光透镜(24)、物镜(25)、分束器(41)、摄像部(43)和解析部(50)。解析部(50)包括干涉强度图像取得部(51)、第1复振幅图像生成部(52)、第2复振幅图像生成部(53)、2维相位图像生成部(54)、3维相位图像生成部(55)和折射率分布计算部(56)。解析部(50)通过使镜(22)的反射面的方位变化而对观察对象物(S)沿多个光照射方向分别照射光,关于多个光照射方向的各个从摄像部(43)取得基准位置上的干涉强度图像,通过基于这些干涉强度图像进行所需的处理来求取观察对象物的3维折射率分布。由此,能够实现降低了多重散射光的影响的3维折射率层析成像。
搜索关键词: 观察 装置 方法
【主权项】:
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