[发明专利]一种直拉法生长无位错锗单晶热场和生长工艺有效

专利信息
申请号: 202111680194.0 申请日: 2021-12-30
公开(公告)号: CN114293256B 公开(公告)日: 2023-06-27
发明(设计)人: 王宇;冯德伸;刘宁;王博;李燕;雷同光;林泉 申请(专利权)人: 中国有研科技集团有限公司
主分类号: C30B29/08 分类号: C30B29/08;C30B15/14;C30B15/20
代理公司: 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 代理人: 刘秀青
地址: 100088*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种直拉法生长无位错锗单晶热场和生长工艺。该热场的结构包括筒形主加热器和圆盘形底加热器,在主加热器外层依次设置有石墨保温桶、固化碳毡保温桶,在石墨保温桶和固化碳毡保温桶上端设有紧贴炉壁的多层保温盖,相邻的两层保温盖之间用石英块隔开;热屏悬挂在保温盖上,并从保温盖朝向靠近单晶的方向延伸到熔体液面上方的位置;热屏采用多层结构设计,热屏的主体结构为喇叭形,靠近单晶的内层热屏采用上薄下厚的楔形结构,两层热屏之间具有间隙。锗单晶的生长过程中,在籽晶前端浸入熔体前,需要分为四个烤晶悬停位置,使籽晶缓慢地从冷区浸入热区;调整热场的温度梯度,保证单晶生长环境的稳定性。
搜索关键词: 一种 直拉法 生长 无位错锗单晶热场 工艺
【主权项】:
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