[发明专利]样本分析系统在审
| 申请号： | 202111532144.8 | 申请日： | 2017-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN114280318A | 公开（公告）日： | 2022-04-05 |
| 发明（设计）人： | 立谷洋大;高井启;熊谷淳;田中利尚 | 申请（专利权）人： | 希森美康株式会社 |
| 主分类号： | G01N35/04 | 分类号： | G01N35/04 |
| 代理公司： | 北京市安伦律师事务所 11339 | 代理人： | 杨永波 |
| 地址： | 日本兵库县神户市*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 样本分析系统，包括：第一执行组件，具有复数个测定单元和一个运送单元；第二执行组件，与所述第一执行组件邻接配置，并具有复数个测定单元和一个运送单元；第三执行组件，与所述第二执行组件邻接配置，并具有制作样本的涂片标本的处理单元和运送单元；其中，所述复数个测定单元包括：第一测定单元和第二测定单元，所述第一和第二执行组件所含的各运送单元包括：将用于安放样本的样本架运送至邻接的执行组件的第一运送路径、以及为了所述第一测定单元及所述第二测定单元所进行的测定而往返运送样本架的第二运送路径，基于在所述第一执行组件或所述第二执行组件中测定样本所得的结果，所述处理单元针对判断需要制作涂片标本的样本制作涂片标本。 | ||
| 搜索关键词： | 样本 分析 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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