[发明专利]一种元器件电气性能测试治具及测试方法在审
申请号: | 202110812051.4 | 申请日: | 2021-07-19 |
公开(公告)号: | CN113721088A | 公开(公告)日: | 2021-11-30 |
发明(设计)人: | 黄颖;侯倾林;侯勤田;邵庆云 | 申请(专利权)人: | 深圳顺络电子股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R1/04 |
代理公司: | 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 | 代理人: | 江耀锋 |
地址: | 518110 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种元器件电气性能测试治具及测试方法,所述测试治具包括测试组件、夹持机构、自锁机构、基体和外框,所述测试组件用于将待测产品连接到测试电路中;所述自锁机构包括自弹式卡座组件;当所述自锁机构在预定位置锁止时,所述夹持机构处于夹紧所述待测产品的状态,复位后,所述夹持机构处于松开所述待测产品的状态。本发明通过所述夹持机构、自锁机构和外框的相互配合,使得两次按压作用力下分别实现待测产品的自动夹紧和自动松开操作,简化了产品测试程序中的操作步骤,提高了测试效率,同时,测试中无需操作人员持续手工压持,故能够避免因为人工操作的偏差、不稳定等情况导致的电弧烧伤电极问题,这在大批量连续化作业中效果尤其显著。 | ||
搜索关键词: | 一种 元器件 电气 性能 测试 方法 | ||
【主权项】:
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