[发明专利]多工位并测的测试方法和测试系统在审
| 申请号： | 202110711196.5 | 申请日： | 2021-06-25 |
| 公开（公告）号： | CN113447883A | 公开（公告）日： | 2021-09-28 |
| 发明（设计）人： | 任伟华;李永江;李涛;崔刚 | 申请（专利权）人： | 海宁奕斯伟集成电路设计有限公司;北京奕斯伟计算技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/04 | 分类号： | G01R35/04 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 彭久云 |
| 地址： | 314400 浙江省嘉兴市海宁市海*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开提供一种多工位并测的测试方法和测试系统，该方法包括：提供测试设备和M个待测芯片，测试设备的输出端口与M个待测芯片连接，测试设备包括N1个激励信号发生器和N2个响应信号分析器，M大于N1且M大于N2；执行至少一个测试项，包括：利用N1个激励信号发生器向每个待测芯片提供激励信号；响应于激励信号，每个待测芯片向测试设备发送响应信号；控制使每个响应信号分析器至少接收一个待测芯片发送的响应信号且使至少一个响应信号分析器中的每个分别接收两个以上待测芯片发送的响应信号；基于响应信号获取测量结果。该方法利用较少的信号分析器捕获并处理较多的待测芯片的响应信号以获取测量结果，减少了测试资源，提高了测试并行度。 | ||
| 搜索关键词： | 多工位 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
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