[发明专利]一种微型电子元件检修方法有效
| 申请号： | 202110589810.5 | 申请日： | 2021-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN113301718B | 公开（公告）日： | 2022-11-04 |
| 发明（设计）人： | 葛先雷;许静雯;王杨;刘音;轩雪飞;杨帅斌;葛竹红;李本杰 | 申请（专利权）人： | 淮南师范学院 |
| 主分类号： | H05K1/18 | 分类号： | H05K1/18;H05K1/02;H05K3/22;H05K3/34 |
| 代理公司： | 宁波华拓同亿专利代理事务所(普通合伙) 33432 | 代理人： | 南梦怡 |
| 地址： | 23200*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种微型电子元件检修方法，其包括电路背板和中间连通结构；电路背板正表面上阵列排布有多组电极接触垫组；中间连通结构设置于正表面上且覆盖电极接触垫组；中间连通结构用于活动设置微型电子元件，在微型电子元件设置于中间连通结构上且向电路背板施加测试信号时，微型电子元件的电极与电极接触垫组中的电极接触垫对应接触导电，通过是否接触导电，可以检测微型电子元件是否存在故障，若存在故障则可以将故障的微型电子元件拔除，更换健康的微型电子元件，该方案在不焊接固定的情况下就可以检测出微型电子元件是否是坏点元件，实现对其及时更换，同时避免了传统检修方法中焊料被反复加热逐渐丧失焊接能力的情况发生。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 微型 电子元件 检修 方法 | ||
【主权项】：
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