[发明专利]一种对称结构的阵列式惯性测量实验系统的设置方法在审
| 申请号： | 202110559678.3 | 申请日： | 2021-05-21 |
| 公开（公告）号： | CN113447044A | 公开（公告）日： | 2021-09-28 |
| 发明（设计）人： | 曹乐;张磊;阚秀;魏德轩;张夏丰;刘乐远;田健鹏;赵雨松 | 申请（专利权）人： | 上海工程技术大学 |
| 主分类号： | G01C25/00 | 分类号： | G01C25/00;G01C21/16 |
| 代理公司： | 上海唯智赢专利代理事务所(普通合伙) 31293 | 代理人： | 刘朵朵 |
| 地址： | 201620 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明属于MEMS应用技术领域，公开了一种对称结构的阵列式惯性测量实验系统的设置方法，能够大幅降低惯性测量系统中产生的轴向误差，从而大大提高惯性测量系统的导航精度，因为本发明的对称结构的阵列式惯性测量实验系统的设置方法首先通过在阵列式惯性测量实验电路板设置惯性测量区位并基于惯性测量区位建立惯性测量坐标系，然后在该惯性测量坐标系中对称且均匀设置IMU芯片且对称设置的两个IMU芯片的X、Y轴相互反向设置，最后根据多个IMU芯片分别在惯性测量坐标系中的位置向量和测得的实时比力、实时角速度以及实时角加速度得到IMU芯片在惯性测量坐标系的融合比力以及融合角速度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 对称 结构 阵列 惯性 测量 实验 系统 设置 方法 | ||
【主权项】：
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