[发明专利]芯片中硬件模块的测试方法、装置、设备及可读存储介质有效
| 申请号： | 202110551292.8 | 申请日： | 2021-05-20 |
| 公开（公告）号： | CN113297020B | 公开（公告）日： | 2023-02-28 |
| 发明（设计）人： | 沈欣舞;裴江华;王金富 | 申请（专利权）人： | 山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 侯珊 |
| 地址： | 250001 山东省济南市自由贸易试验*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片中硬件模块的测试方法，该方法包括以下步骤：对接收到的芯片测试请求进行解析，得到待测试的目标硬件模块和目标信号位；将控制寄存器原默认选取的各多路选择器中的接地信号位，切换为芯片测试请求所选中各目标信号位；利用各目标信号位对目标硬件模块进行测试操作。应用本发明所提供的芯片中硬件模块的测试方法，当不需要进行硬件模块测试时，不存在信号跳变，降低了芯片功耗。本发明还公开了一种芯片中硬件模块的测试装置、设备及存储介质，具有相应技术效果。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 硬件 模块 测试 方法 装置 设备 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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