[发明专利]光子自旋霍尔效应测量装置及测量方法有效
申请号: | 202110532027.5 | 申请日: | 2021-05-17 |
公开(公告)号: | CN113160674B | 公开(公告)日: | 2022-11-18 |
发明(设计)人: | 苗艳;孙雪芳;聂燕;白羽;唐晓辉 | 申请(专利权)人: | 成都世纳科技有限公司 |
主分类号: | G09B23/22 | 分类号: | G09B23/22 |
代理公司: | 北京中济纬天专利代理有限公司 11429 | 代理人: | 李蜜;钟玉巧 |
地址: | 610200 四川省成都市双流区西航港街*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了一种光子自旋霍尔效应测量装置及测量方法,该测量装置包括底座、载物台、读数装置、光臂组件以及光路组件,底座的中心位置设有中心轴,载物台及读数装置均安装于中心轴上;光臂组件包括入射光臂、反射光臂、光臂架Ⅰ、光臂架Ⅱ以及若干光具座,光臂架Ⅰ的下端与底座固定连接,光臂架Ⅱ的下端与中心轴转动连接,入射光臂与光臂架Ⅰ上端面之间和出射光臂与光臂架Ⅱ上端面之间均设置有调节定位机构,调节定位机构用于调节并定位入射光臂与光臂架Ⅰ之间、反射光臂与光臂架Ⅱ之间的俯仰角度。本发明可以便捷的形成光子自旋霍尔效应的测量光路,直观地展示出光子自旋现象并测量出光子自旋位移。 | ||
搜索关键词: | 光子 自旋 霍尔 效应 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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