[发明专利]光子自旋霍尔效应测量装置及测量方法有效

专利信息
申请号: 202110532027.5 申请日: 2021-05-17
公开(公告)号: CN113160674B 公开(公告)日: 2022-11-18
发明(设计)人: 苗艳;孙雪芳;聂燕;白羽;唐晓辉 申请(专利权)人: 成都世纳科技有限公司
主分类号: G09B23/22 分类号: G09B23/22
代理公司: 北京中济纬天专利代理有限公司 11429 代理人: 李蜜;钟玉巧
地址: 610200 四川省成都市双流区西航港街*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种光子自旋霍尔效应测量装置及测量方法,该测量装置包括底座、载物台、读数装置、光臂组件以及光路组件,底座的中心位置设有中心轴,载物台及读数装置均安装于中心轴上;光臂组件包括入射光臂、反射光臂、光臂架Ⅰ、光臂架Ⅱ以及若干光具座,光臂架Ⅰ的下端与底座固定连接,光臂架Ⅱ的下端与中心轴转动连接,入射光臂与光臂架Ⅰ上端面之间和出射光臂与光臂架Ⅱ上端面之间均设置有调节定位机构,调节定位机构用于调节并定位入射光臂与光臂架Ⅰ之间、反射光臂与光臂架Ⅱ之间的俯仰角度。本发明可以便捷的形成光子自旋霍尔效应的测量光路,直观地展示出光子自旋现象并测量出光子自旋位移。
搜索关键词: 光子 自旋 霍尔 效应 测量 装置 测量方法
【主权项】:
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