[发明专利]反射光生成组件、磁性测量系统及磁性测量方法在审
| 申请号： | 202110480441.6 | 申请日： | 2021-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN113238175A | 公开（公告）日： | 2021-08-10 |
| 发明（设计）人： | 尉国栋;李燊 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01R33/12 | 分类号： | G01R33/12 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 赵平;叶明川 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： |
本发明提供的一种反射光生成组件、磁性测量系统及磁性测量方法，通过利用AGFM梯度共振的原理实现高速度和高灵敏性测量，同时利用激光多普勒测振原理可以无接触、远距离实现高精度的位移和速度的测量，将二者结合可以实现一种测量精度高、抗噪声能力强的新型测量方案，本发明在磁性样品于梯度磁场中受力共振的基础上，利用激光多普勒频移效应测量样品的振动速度和振幅，进而得到磁性材料的磁化强度随外加偏置磁场的变化，测量的理论精度可达10 |
||
| 搜索关键词： | 反射光 生成 组件 磁性 测量 系统 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航空航天大学，未经北京航空航天大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110480441.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：极片及其制备方法、锂离子电池
- 下一篇：一种音质优化处理的音频芯片及耳机
