[发明专利]一种透射电子显微镜的微米级粉末样品的制备方法在审
申请号: | 202110447704.3 | 申请日: | 2021-04-25 |
公开(公告)号: | CN113009185A | 公开(公告)日: | 2021-06-22 |
发明(设计)人: | 丁一凡;沈希;禹日成 | 申请(专利权)人: | 中国科学院物理研究所 |
主分类号: | G01Q30/20 | 分类号: | G01Q30/20 |
代理公司: | 北京智汇东方知识产权代理事务所(普通合伙) 11391 | 代理人: | 关艳芬 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及电子显微镜测试技术领域,提供了一种透射电子显微镜的微米级粉末样品的制备方法。该制备方法包括:将待观察的微米级粉末包埋在低温焊剂中形成待加工样品块;对待加工样品块进行减薄直到样品块的厚度符合透射电子显微镜的观察要求,以得到最终样品。本发明可以更高效、稳定地制备满足要求的观察样品,对样品本身的影响较小,样品厚度均匀,样品制备成功率高。 | ||
搜索关键词: | 一种 透射 电子显微镜 微米 粉末 样品 制备 方法 | ||
【主权项】:
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