[发明专利]一种短波长特征X射线内部残余应力无损测试方法在审
| 申请号： | 202110441350.1 | 申请日： | 2021-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN113176285A | 公开（公告）日： | 2021-07-27 |
| 发明（设计）人： | 郑林;窦世涛;张伦武;张津;车路长;王成章;周堃;何长光;彭正坤;封先河;陈新 | 申请（专利权）人： | 中国兵器工业第五九研究所 |
| 主分类号： | G01N23/207 | 分类号： | G01N23/207;G01L5/00 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 王云晓 |
| 地址： | 400039 *** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： |
本发明公开了一种短波长特征X射线内部残余应力无损测试方法，X射线源和探测器分布在样品的两侧，光路为透射式，在测量时，通过转动欧拉环以改变Ψ角，测试不同Ψ角下的衍射角2θ，通过拟合衍射角2θ‑sin |
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| 搜索关键词： | 一种 波长 特征 射线 内部 残余 应力 无损 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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