[发明专利]一种短波长特征X射线内部残余应力无损测试方法

权利要求书

1.一种短波长特征X射线内部残余应力无损测试方法，其特征在于，包括：

入射X射线与衍射X射线分别位于样品的两侧，形成透射式的光路。

将待测试样品固定于试样架上，以通过所述试样架将所述待测试样品置于射线源的出射方向与欧拉环转动轴线的交点；所述试样架与所述欧拉环连接，所述欧拉环带动所述试样架绕所述欧拉环转动轴线转动；

转动欧拉环，带动试样架转动至预设Ψ角；

当试样架与所述欧拉环相对固定时，开启所述射线源发射短波长特征X射线照射所述待测样品，并通过转动测角仪带动探测器绕所述衍射仪圆圆心转动接收衍射X射线，以获取衍射谱；所述探测器与所述射线源位于同一水平面，所述探测器沿所述水平面绕所述测角仪圆心所在的竖直轴线转动，入射准直器的射线出射方向、接收准直器的射线入射方向、欧拉环转动轴线、测角仪转动轴线相交于一点，该点即为衍射体积中心；

在获取所述衍射谱之后，判断所述试样架当前的Ψ角是否为最终Ψ角；若否，则将所述预设Ψ角更新为下一预设Ψ角，并执行所述转动欧拉环，带动试样架至下一预设Ψ角，至开启所述射线源发射特征X射线照射所述待测试样品，并转动测角仪带动探测器转动接收衍射X射线，以获取衍射谱的步骤；

根据所述衍射谱定峰结果和所述Ψ角计算所述待测试样品的残余应力。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述射线源包括射线发生装置和入射准直器，所述射线发生装置的出射口指向所述入射准直器，所述入射准直器的出射口指向所述欧拉环的转动轴线；所述探测器包括射线接收装置和接收准直器，所述接收准直器的接收口指向所述射线源的出射方向与所述欧拉环转动轴线的交点，所述射线接收装置的接收口指向所述接收准直器的出射口。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述入射准直器的通光宽度的取值范围为10μm至200μm，包括端点值；所述接收准直器的通光宽度的取值范围为10μm至200μm，包括端点值。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述射线源的出射方向指向所述入射准直器的射线出射方向、接收准直器的射线入射方向、欧拉环转动轴线、测角仪转动轴线的交点。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述当试样架与所述欧拉环相对固定时，开启所述射线源发射短波长特征X射线照射所述待测试样品，并转动测角仪带动所述探测器绕所述测角仪圆心转动接收衍射X射线，以测量衍射角包括：

当试样架与所述欧拉环相对固定时，开启所述射线源发射短波长特征X射线照射所述待测试样品，转动测角仪带动所述探测器转动接收衍射X射线，并通过测角仪测量衍射角，获取衍射谱；所述测角仪与所述探测器通过探测器支架固定连接。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述转动欧拉环，带动试样架转动至预设位置，以形成预设Ψ角包括：

转动欧拉环，通过定位部将试样架置于欧拉环的预设位置，以形成预设Ψ角；所述定位部与所述试样架连接。

7.根据权利要求1至6任一项权利要求所述的方法，其特征在于，所述将待测试样品固定于试样架上，以通过所述试样架将所述待测试样品置于射线源的出射方向与欧拉环转动轴线的交点包括：

将待测试样品固定于试样架上，以通过所述试样架将所述待测试样品的测试部位置于射线源的出射方向与欧拉环转动轴线的交点；

所述根据所述衍射谱定峰结果和所述Ψ角计算所述待测试样品的残余应力包括：

根据所述衍射谱定峰结果和所述Ψ角计算所述待测试样品在所述测试部位的残余应力；

在根据所述衍射谱定峰结果和所述Ψ角计算所述待测试样品的残余应力之后，还包括：

判断所述待测试样品当前测量应力的测试部位是否为最终测试部位；若否，则将所述预设测试部位更新为下一预设测试部位，至根据所述衍射谱定峰结果和所述Ψ角计算所述待测试样品在所述预设测试部位的残余应力的步骤；

根据多个所述残余应力数据绘制所述待测试样品的残余应力分布曲线。