[发明专利]测试装置和测试方法有效
| 申请号： | 202110378350.1 | 申请日： | 2021-04-08 |
| 公开（公告）号： | CN113188904B | 公开（公告）日： | 2023-10-03 |
| 发明（设计）人： | 邓创华 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N3/08 | 分类号： | G01N3/08;G01N3/20;G01N3/02 |
| 代理公司： | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人： | 远明 |
| 地址： | 518132 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种测试装置和一种测试方法，测试装置包括工作台、框架、滑轮组件、牵引件，框架悬空设置，框架的一端固定在工作台上，滑轮组件设置于框架上，牵引件与滑轮组件活动配合，并设置有第一连接端和第二连接端，其中，牵引件的第一连接端与待测试金属膜层直接或间接地固定连接，牵引件的第二连接端连接有质量量具，通过测试待测试金属膜层的拉拽力以验证待测试金属膜层的极限弯折半径；通过测试装置连接待测试金属膜层，能通过改变待测试金属膜层的拉拽力以验证待测试金属膜层的极限弯折半径，当待测试金属膜层为覆晶薄膜时，极限弯折半径即为覆晶薄膜的最小拼接间隙。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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