[发明专利]测试装置和测试方法有效
申请号: | 202110378350.1 | 申请日: | 2021-04-08 |
公开(公告)号: | CN113188904B | 公开(公告)日: | 2023-10-03 |
发明(设计)人: | 邓创华 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
主分类号: | G01N3/08 | 分类号: | G01N3/08;G01N3/20;G01N3/02 |
代理公司: | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人: | 远明 |
地址: | 518132 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试 装置 方法 | ||
本申请公开了一种测试装置和一种测试方法,测试装置包括工作台、框架、滑轮组件、牵引件,框架悬空设置,框架的一端固定在工作台上,滑轮组件设置于框架上,牵引件与滑轮组件活动配合,并设置有第一连接端和第二连接端,其中,牵引件的第一连接端与待测试金属膜层直接或间接地固定连接,牵引件的第二连接端连接有质量量具,通过测试待测试金属膜层的拉拽力以验证待测试金属膜层的极限弯折半径;通过测试装置连接待测试金属膜层,能通过改变待测试金属膜层的拉拽力以验证待测试金属膜层的极限弯折半径,当待测试金属膜层为覆晶薄膜时,极限弯折半径即为覆晶薄膜的最小拼接间隙。
技术领域
本申请涉及侧面绑定技术领域,具体涉及一种测试装置和一种测试方法。
背景技术
现有拼接式miniLED产品为实现多个屏幕的拼接,传统的处理方式是将覆晶薄膜朝miniLED背板一侧进行弯折并固定印刷电路板于背板上,此时覆晶薄膜与绑定区连接位置附近将产生较大的弯曲变形,并在玻璃基板侧边出现一个外鼓高度,即拼接间隙,显然印刷电路板的固定位置会影响拼接间隙的大小,印刷电路板拉扯覆晶薄膜越紧,拼接间隙则越小。过大的拼接间隙会导致整体显示效果较差,而过小的拼接间隙会导致覆晶薄膜弯折过大产生破坏,因此拼接式miniLED产品主要技术难点在于需要在拼接间隙的大小和覆晶薄膜强度之间取得平衡,目前还未发现类似的测试装置能测量覆晶薄膜能受到的极限拉拽力以及最小拼接间隙。
因此,现有测试装置存在无法测量待测试金属膜层的拉拽耐受力以及拼接间隙之间关系的技术问题。
发明内容
本申请实施例提供一种测试装置,可以缓解现有测试装置存在无法测量待测试金属膜层的拉拽耐受力以及拼接间隙之间关系的技术问题。
本申请实施例提供一种测试装置,包括:
工作台;
框架,所述框架悬空设置,所述框架的一端固定在所述工作台上;
滑轮组件,设置于所述框架上;以及,
牵引件,所述牵引件与所述滑轮组件活动配合,并设置有第一连接端和第二连接端;
其中,所述牵引件的第一连接端与待测试金属膜层直接或间接地固定连接,所述牵引件的第二连接端连接有质量量具,通过测试所述待测试金属膜层的拉拽力以验证所述待测试金属膜层的极限弯折半径。
可选的,在本申请的一些实施例中,所述框架包括第一滑轨、第二滑轨、第三滑轨、第四滑轨、第五滑轨,所述第一滑轨和所述第二滑轨沿所述印刷电路板长度方向设置,所述第三滑轨和所述第四滑轨沿所述印刷电路板宽度方向设置,其中,所述第三滑轨和所述第四滑轨平行于所述印刷电路板的短边设置,所述第三滑轨和所述第四滑轨与所述第一滑轨和所述第二滑轨固定连接,所述第五滑轨垂直于所述第三滑轨和所述第四滑轨设置,所述第五滑轨与所述第三滑轨和所述第四滑轨固定连接。
可选的,在本申请的一些实施例中,所述测试装置还包括固定组件,所述第一滑轨、第二滑轨、第三滑轨、第四滑轨、第五滑轨均设置有通孔,所述固定组件通过所述通孔将所述框架与所述待测试显示模组连接。
可选的,在本申请的一些实施例中,所述待测试金属膜层为覆晶薄膜,所述覆晶薄膜的两端分别连接显示面板和印刷电路板,所述牵引件与所述印刷电路板直接连接,通过牵引件对所述印刷电路板进行拉拽,从而间接拉拽所述待测试金属膜层。
可选的,在本申请的一些实施例中,所述显示面板朝向所述印刷电路板的一侧表面还设置有背板,所述背板还包括至少四个凹孔,所述第一滑轨通过所述固定组件与两个所述凹孔固定连接,所述第二滑轨通过所述固定组件与另外两个所述凹孔固定连接。
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