[发明专利]一种光学介质材料的透光率和均匀度检测方法有效
| 申请号： | 202110368251.5 | 申请日： | 2021-04-06 |
| 公开（公告）号： | CN113281310B | 公开（公告）日： | 2022-12-02 |
| 发明（设计）人： | 聂光军;臧毅鹏;岳文瑾 | 申请（专利权）人： | 安徽工程大学 |
| 主分类号： | G01N21/59 | 分类号： | G01N21/59;G01N21/84 |
| 代理公司： | 芜湖安汇知识产权代理有限公司 34107 | 代理人： | 钟雪 |
| 地址： | 241000 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开一种光学介质材料的透光率和均匀度检测方法，包括：原位采集光学介质材料覆盖前后的物像数字图像，获取图像1和图像2；获取图像1和图像2中物像区域所在行和列的最大值及最小值，仅保留图像1及图像2中的物像区域，分别称为图像M和图像N；计算图像M及图像N在R、G、B三个维度上的比值，进而计算出光学介质材料的透光率；对图像M及图像N进行二值化处理和gamma校正，生成二维矩阵GM和GN，计算二维矩阵GM和GN的相关系数，即为光学介质材料的均匀度。能够测定可见光谱波段全波长透光率，且能测定整个透明光学介质材料的光透光性能。此外，还能检测透明光学介质材料的均匀度及不同颜色质地的透明光学介质材料的透光性和均匀度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学 介质 材料 透光率 均匀 检测 方法 | ||
【主权项】：
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