[发明专利]一种光伏组件EL检测系统及其测试方法在审
| 申请号： | 202110362729.3 | 申请日： | 2021-04-02 |
| 公开（公告）号： | CN113257696A | 公开（公告）日： | 2021-08-13 |
| 发明（设计）人： | 陈斌;卢林;陈道远 | 申请（专利权）人： | 晶澳（扬州）太阳能科技有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66;H02S50/15;H01L31/048 |
| 代理公司： | 北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) 11386 | 代理人： | 马东伟 |
| 地址： | 225009 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明涉及一种光伏组件EL检测系统及其测试方法，属于光伏组件制造技术领域，解决了现有技术中EL检测系统无法针对不同尺寸光伏组件连续测试、且人工调整EL相机导致EL图片不良的问题。本发明包括EL测试单元(10)和测量单元(40)，测量单元(40)用于获取待测试件(50)的长度，EL测试单元(10)包括EL相机(13)和PC控制单元(14)，PC控制单元(14)根据待测试件(50)的长度调整EL相机(13)的位置。本发明通过获取待测试件的长度自动调整EL相机的位置，能够对不同尺寸光伏组件连续测试，无需人工对EL相机位置进行调整，同时避免了因人工调整EL相机位置不准确导致的EL图片不良的情况。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 组件 el 检测 系统 及其 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于晶澳（扬州）太阳能科技有限公司，未经晶澳（扬州）太阳能科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110362729.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
