[发明专利]测试电路、测试系统和测试方法在审
| 申请号： | 202110355500.7 | 申请日： | 2021-04-01 |
| 公开（公告）号： | CN113189470A | 公开（公告）日： | 2021-07-30 |
| 发明（设计）人： | 李升根 | 申请（专利权）人： | 深圳市广和通无线股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 熊文杰 |
| 地址： | 518051 广东省深圳市南山区西丽街*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种测试电路、测试系统和测试方法。该测试电路包括：分压模块和检测模块。测试电路的分压模块的第一端与待测试芯片的预设引脚连接，分压模块的第二端用于接收电源电压，通过检测模块检测分压模块的第一端的待测电压，若待测电压满足预设条件，即待测电压为电源电压的预设倍数时，可以确定待测试芯片合格。因此，上述测试电路无需采用综合测试仪，也可以实现对芯片引脚的焊接可靠性进行测试，降低了对芯片引脚的焊接可靠性的测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 电路 系统 方法 | ||
【主权项】：
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