[发明专利]基于SSD算法的激光器芯片缺陷检测及分类方法与系统有效
| 申请号： | 202110339909.X | 申请日： | 2021-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN113077430B | 公开（公告）日： | 2023-05-09 |
| 发明（设计）人： | 赵菊敏;李灯熬;窦伦伦 | 申请（专利权）人： | 太原理工大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06V10/764;G06V10/82;G06N3/0464;G06N3/08 |
| 代理公司： | 北京一品慧诚知识产权代理有限公司 11762 | 代理人： | 张宇 |
| 地址： | 030600 山西省*** | 国省代码： | 山西;14 |
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| 摘要： | 本发明涉及芯片缺陷检测领域，特别是基于SSD算法的激光器芯片缺陷检测及分类方法与系统。本发明搭建SSD网络，按预设参数训练SSD网络；将训练好的SSD网络嵌入计算机；传送带将待检测芯片依次传送至与工业相机相对应的成像位置，工业相机获取待检测芯片的成像图像并传输至计算机；计算机利用训练好的SSD网络识别激光器芯片封装表面的缺陷类型。结合激光器芯片缺陷类型及SSD算法，嵌入SSD算法的计算机与传送带、工业相机、照明系统等相关测量设施相连构成一个完整的激光器芯片缺陷检测与分类系统，提高了激光器芯片缺陷识别检测的实时性及精确度，克服了现有神经网络检测系统的计算量大，实时性差的缺陷，及人工经验判断的精确度差、效率低的缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 ssd 算法 激光器 芯片 缺陷 检测 分类 方法 系统 | ||
【主权项】：
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