[发明专利]应用于芯片DB和金线WB的自动化智能检测方法及系统在审
| 申请号： | 202110339706.0 | 申请日： | 2021-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN113075231A | 公开（公告）日： | 2021-07-06 |
| 发明（设计）人： | 刘宁 | 申请（专利权）人： | 博坤机电（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/95 | 分类号： | G01N21/95;G01N21/01 |
| 代理公司： | 北京挺立专利事务所(普通合伙) 11265 | 代理人： | 张亚伟 |
| 地址： | 215129 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了应用于芯片DB和金线WB的自动化智能检测方法及系统，所述第一移动轴与所述底座固定连接，所述第二移动轴的一端与所述第一移动轴滑动连接，所述第三移动轴的底部与底座固定连接，所述活动架与所述第三移动轴滑动连接，所述工具显微镜与所述活动架固定连接，所述工业相机与所述活动架固定连接，所述治具平面与所述第二移动轴固定连接；通过将工具显微镜、工业相机、纵向设置的第三移动轴、横向设置且相互垂直设置的第一移动轴和第二移动轴组合起来，搭建成一套检测系统，用人工智能的方法，模拟检测人员的操作，实现自动运动、自动采集数据、自动测量结果，不需要人工介入，完成自动化的芯片DB和金线WB的检测。 | ||
| 搜索关键词： | 应用于 芯片 db wb 自动化 智能 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
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