[发明专利]确定磁力计校准参数的方法、装置、电子设备及存储介质有效
| 申请号： | 202110321345.7 | 申请日： | 2021-03-25 |
| 公开（公告）号： | CN112964278B | 公开（公告）日： | 2022-04-22 |
| 发明（设计）人： | 李智超;陈刚;谷俊豪;杨威;柳青松 | 申请（专利权）人： | 北京三快在线科技有限公司 |
| 主分类号： | G01C25/00 | 分类号： | G01C25/00;G01R35/00 |
| 代理公司： | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人： | 谢冬寒 |
| 地址： | 100080 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种确定磁力计校准参数的方法、装置、电子设备及存储介质，属于电子技术领域。所述方法包括：确定椭球校准模型对应的第一损失函数和陀螺仪校准模型对应的第二损失函数；对第一损失函数和第二损失函数中待确定的磁力计校准参数进行联合优化，得到优化后的磁力计校准参数。本公开联合椭球校准模型和陀螺仪校准模型，在采集到的磁力计校准数据的数量较少无法正确描述椭球校准模型时，主要依赖椭球校准模型确定磁力计校准参数，在采集到的磁力计校准数据的数量较多时，同时依赖椭球校准模型和陀螺仪校准模型进行确定，采用该种方法提高了所确定的磁力计校准参数的准确性，进一步提高了对电子设备的定位精度。 | ||
| 搜索关键词： | 确定 磁力计 校准 参数 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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