[发明专利]一种通过氧空位浓度调控ε相氧化镓光电响应性能的方法在审

专利信息
申请号: 202110318666.1 申请日: 2021-03-25
公开(公告)号: CN113066902A 公开(公告)日: 2021-07-02
发明(设计)人: 唐为华;李山;李培刚 申请(专利权)人: 北京邮电大学
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L31/032;H01L31/036;H01L31/108
代理公司: 北京清诚知识产权代理有限公司 11691 代理人: 喻颖
地址: 100088 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种通过氧空位浓度调控ε相氧化镓光电响应性能的方法和相应的Ga2O3薄膜和光电探测器。所述方法包括:在衬底上生成初始的ε相晶体结构Ga2O3薄膜,并在富氧环境下对所述初始的Ga2O3薄膜进行退火处理,以得到最终的Ga2O3薄膜。本发明的方法能够有效改善ε相氧化镓的结晶质量和缺陷浓度,使ε相氧化镓的光电响应性能大幅度提升,达到光电探测器应用要求。
搜索关键词: 一种 通过 空位 浓度 调控 氧化 光电 响应 性能 方法
【主权项】:
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