[发明专利]一种阵列基板及其测试方法、制作方法及显示装置在审

专利信息
申请号: 202110316081.6 申请日: 2021-03-24
公开(公告)号: CN113066845A 公开(公告)日: 2021-07-02
发明(设计)人: 何亮亮;张文莉 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;绵阳京东方光电科技有限公司
主分类号: H01L27/32 分类号: H01L27/32;H01L23/544;H01L21/66;H01L21/77
代理公司: 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 代理人: 李娜
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种阵列基板及其测试方法、制作方法及显示装置,涉及显示技术领域。本发明通过在位于测试区的阵列基板中设置多个并联的测试电容、第一连接线、第二连接线、第一测试端子和第二测试端子,每个测试电容包括层叠设置在基底上的第一电极、第一绝缘层和第二电极,每个测试电容与显示区内设置的存储电容的膜层结构相同。通过将测试区内设置的各个测试电容中的第一电极通过第一连接线与第一测试端子连接,各个测试电容的第二电极通过第二连接线与第二测试端子连接,从而实现多个测试电容并联,后续可使用测试区内设置的多个并联的测试电容来进行测试,实现对显示区内设置的存储电容进行有效的监控。
搜索关键词: 一种 阵列 及其 测试 方法 制作方法 显示装置
【主权项】:
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