[发明专利]一种双包层光纤纤芯损耗的测试装置及方法在审
| 申请号： | 202110305891.1 | 申请日： | 2021-03-23 |
| 公开（公告）号： | CN113203548A | 公开（公告）日： | 2021-08-03 |
| 发明（设计）人： | 张立华;姜蕾;代江云;高聪;刘念;沈昌乐 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00;G02B6/255 |
| 代理公司： | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人： | 徐静 |
| 地址： | 621900 四川省绵*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种双包层光纤纤芯损耗的测试装置及方法，涉及光纤测量技术领域，双包层光纤纤芯损耗的测试装置包括光源发生装置、待测双包层光纤、光电探测器和包层光滤除组件，所述包层光滤除组件包括前置单包层传能光纤和后置单包层传能光纤；所述前置单包层传能光纤一端接收光源发生装置发出的信号光形成注入端，另一端与待测双包层光纤的始端连接形成连接端；所述后置单包层传能光纤一端向光电探测器传递信号光形成输出端，另一端与待测双包层光纤的末端连接形成连接端。本发明提供的双包层光纤纤芯损耗的测试装置及方法，通过包层光滤除组件确保将包层光完全滤除，消除了因滤除包层光不彻底而造成的干扰，提高了纤芯损耗的测试精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 包层 纤纤 损耗 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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