[发明专利]一种双包层光纤纤芯损耗的测试装置及方法在审
申请号: | 202110305891.1 | 申请日: | 2021-03-23 |
公开(公告)号: | CN113203548A | 公开(公告)日: | 2021-08-03 |
发明(设计)人: | 张立华;姜蕾;代江云;高聪;刘念;沈昌乐 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
主分类号: | G01M11/00 | 分类号: | G01M11/00;G02B6/255 |
代理公司: | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人: | 徐静 |
地址: | 621900 四川省绵*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 包层 纤纤 损耗 测试 装置 方法 | ||
1.一种双包层光纤纤芯损耗的测试装置,包括光源发生装置(1)和能够检测并记录信号光功率的光电探测器(12),其特征在于:还包括包层光滤除组件,所述包层光滤除组件包括前置单包层传能光纤(5)和后置单包层传能光纤(9);所述前置单包层传能光纤(5)一端接收光源发生装置(1)发出的信号光形成注入端,另一端与待测双包层光纤(7)的始端连接形成连接端;所述后置单包层传能光纤(9)一端向光电探测器(12)传递信号光形成输出端,另一端与待测双包层光纤(7)的末端连接形成连接端。
2.如权利要求1所述的双包层光纤纤芯损耗的测试装置,其特征在于:所述前置单包层传能光纤(5)的连接端通过前置熔接点(6)与待测双包层光纤(7)始端熔接,所述后置单包层传能光纤(9)的连接端通过后置熔接点(8)与待测双包层光纤(7)末端熔接;所述前置熔接点(6)和后置熔接点(8)处涂覆有高折射率胶水,所述高折射率胶水的折射率大于待测双包层光纤(7)石英包层的折射率。
3.如权利要求1或2所述的双包层光纤纤芯损耗的测试装置,其特征在于:所述前置单包层传能光纤(5)和后置单包层传能光纤(9)的长度不少于1米。
4.如权利要求1所述的双包层光纤纤芯损耗的测试装置,其特征在于:所述光源发生装置(1)与前置单包层传能光纤(5)之间设有单色仪(2),所述单色仪(2)接收光源发生装置(1)发出的宽带信号光,从中提取某一波长的单色信号光,并将提取的单色信号光传递给前置单包层传能光纤(5)的注入端;所述单色仪(2)能够对宽带信号光中不同波长的单色信号光分别进行提取。
5.如权利要求1所述的双包层光纤纤芯损耗的测试装置,其特征在于:还包括前置光纤夹具(4)和调整前置光纤夹具(4)位置的前置调整支架(3);所述前置单包层传能光纤(5)的注入端限制于前置光纤夹具(4),所述前置调整支架(3)调节前置光纤夹具(4)的位置,使信号光注入到前置单包层传能光纤(5)的纤芯中。
6.如权利要求1所述的双包层光纤纤芯损耗的测试装置,其特征在于:还包括后置光纤夹具(10)和调整后置光纤夹具(10)位置的后置调整支架(11);所述后置单包层传能光纤(9)的输出端限制于后置光纤夹具(10),所述后置调整支架(11)调节后置光纤夹具(10)的位置,将信号光对准到光电探测器(12)上。
7.一种双包层光纤纤芯损耗的方法,其特征在于,包括以下步骤:
A.将待测双包层光纤(7)的始端与前置单包层传能光纤(5)的连接端熔接形成前置熔接点(6),将待测双包层光纤(7)的末端与后置单包层传能光纤(9)的连接端熔接形成后置熔接点(8);
B.将前置单包层传能光纤(5)的注入端固定于前置光纤夹具(4),调整前置调整支架(3)使得注入端的光纤端口与光源发生装置(1)对中,将后置单包层传能光纤(9)的输出端固定于后置光纤夹具(10),调整后置调整支架(11)使得输出端的光纤端口与光电探测器(12)对中;
C.打开光源发生装置(1)、单色仪(2)和光电探测器(12),输入待测双包层光纤(7)纤芯损耗的波长信息,使得单色仪(2)射出的单色信号光根据输入的波长信息连续改变,使用光电探测器(12)连续接收信号光功率,并记录下不同波长处的信号光功率P0(λ);
D.以待测双包层光纤(7)末端处为起点,截断一段长度为L的待测双包层光纤(7),并将剩余的待测双包层光纤(7)重新与后置单包层传能光纤(9)熔接形成新的后置熔接点(8);
E.重复步骤C,记录不同波长处的信号光功率P1(λ),并计算待测双包层光纤(7)的纤芯损耗。
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