[发明专利]一种检测钴中杂质元素含量的方法有效
| 申请号： | 202110292450.2 | 申请日： | 2021-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN113049671B | 公开（公告）日： | 2023-05-12 |
| 发明（设计）人： | 姚力军;潘杰;王学泽;钟伟华;周童;余琼;马兰 | 申请（专利权）人： | 宁波江丰电子材料股份有限公司;中国兵器科学研究院宁波分院 |
| 主分类号： | G01N27/68 | 分类号： | G01N27/68;G01N1/32;G01N1/34 |
| 代理公司： | 北京远智汇知识产权代理有限公司 11659 | 代理人： | 王岩 |
| 地址： | 315400 浙江省宁波市*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明提供一种检测钴中杂质元素含量的方法，所述方法包括对样品钴依次进行打磨、第一酸洗和第二酸洗，得到处理后样品钴，对所述处理后样品钴进行辉光放电质谱分析，得到样品钴中的杂质元素含量；所述方法更加有效地对高纯度钴表面进行预处理，使预溅射时间显著缩短，同时所述方法避免了样品钴被环境颗粒物影响，从而获得更准确的数据。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 检测 杂质 元素 含量 方法 | ||
【主权项】：
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