[发明专利]基于X射线的电子系统辐射敏感位置快速甄别方法及系统有效
| 申请号： | 202110292224.4 | 申请日： | 2021-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN113064196B | 公开（公告）日： | 2023-06-27 |
| 发明（设计）人： | 马武英;欧阳晓平;郭红霞;姚志斌;何宝平;王祖军;盛江坤;薛院院;缑石龙 | 申请（专利权）人： | 西北核技术研究所 |
| 主分类号： | G01T1/02 | 分类号： | G01T1/02 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 郑丽红 |
| 地址： | 710024 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明提供一种基于X射线的电子系统辐射敏感位置快速甄别方法及系统，解决电子系统级总剂量效应试验过程中辐射敏感位置难以快速、准确定位的问题。该方法和系统在试验过程中采用局部屏蔽技术和逐个器件扫描辐照方式，可快速、准确获得电子系统的辐射敏感位置，不需要改变系统设计，并回避了长线加偏置、离线测试等问题，实现方法简单易行，实验周期短、成本低且操作方法简单。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 射线 电子 系统 辐射 敏感 位置 快速 甄别 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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