[发明专利]芯片测试装置、系统及芯片测试的方法在审
| 申请号： | 202110275945.4 | 申请日： | 2021-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN113203936A | 公开（公告）日： | 2021-08-03 |
| 发明（设计）人： | 梁小江;连光;靳凯凯;蒲莉娟 | 申请（专利权）人： | 江西创成微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳市君之泉知识产权代理有限公司 44366 | 代理人： | 石孟华 |
| 地址： | 343000 江西省吉安*** | 国省代码： | 江西;36 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种芯片测试装置、系统及芯片测试的方法，该芯片测试装置包括测试底座和测试电路；测试底座上设置有用于固定待测封装芯片的凹槽，且凹槽的边缘包括多阶梯结构，多阶梯结构使凹槽可固定不同尺寸的待测封装芯片，多阶梯结构的多个不同高度的阶梯台面上各设有一组导电触点；每一组导电触点包括第一导电触点和第二导电触点，第一导电触点和第二导电触点分别与测试电路电连接，测试电路用于通过第一导电触点向待测封装芯片发送测试输入信号，以及通过第二导电触点获取待测封装芯片的测试输出信号，并根据测试输出信号判断待测封装芯片是否异常。本发明提供的芯片测试装置可以兼容不同尺寸的封装芯片的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 装置 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江西创成微电子有限公司，未经江西创成微电子有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110275945.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
