[发明专利]基质样品制备方法及基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱分析方法有效
| 申请号： | 202110265740.8 | 申请日： | 2021-03-11 |
| 公开（公告）号： | CN112858459B | 公开（公告）日： | 2022-12-20 |
| 发明（设计）人： | 韩永光 | 申请（专利权）人： | 昆山聂尔精密仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01N27/64 | 分类号： | G01N27/64;G01N1/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215300 江苏省苏州市昆山市玉山*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供一种基质样品制备方法及基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱分析方法，所述基质样品制备方法包括：将HPLC级乙腈和三氟乙酸混合，得到标准溶剂；在所述标准溶剂中加入4‑羟基‑3‑硝基苯甲腈，得到基质溶液；将待测样品制备为样品溶液；将所述样品溶液和所述基质溶液按体积比1:1混合后，得到混合溶液；将所述混合溶液点在靶板上，自然干燥，得到样品靶板。本发明提供的基质适用范围广，不仅适用于小分子化合物和多肽样品的检测，而且适用于蛋白质样品的检测，此外检测时样品制备方法简便，解决了目前使用有机酸基质对低分子量分析物进行MALDI‑TOF质谱时检测受限的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 基质 样品 制备 方法 辅助 激光 解吸 电离 飞行 时间 谱分析 | ||
【主权项】：
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